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多功能數字式四探針測試儀

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產品型號HAD-2258C

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更新時間：2016-01-08 16:27:11瀏覽次數：105次

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產品簡介

多功能數字式四探針測試儀/臺式四探針電阻率測試儀型號:HAD-2258C
概述
HAD-2258C型是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.

詳細介紹

多功能數字式四探針測試儀/臺式四探針電阻率測試儀型號:HAD-2258C

概述
HAD-2258C型多功能數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準。
儀器成套組成：由主機、選配的四探針探頭、測試臺等部分組成。
主機主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機系統組成。儀器所有參數設定、功能轉換全部采用數字化鍵盤輸入；具有零位、滿度自校功能；電壓電流全自動轉換量程；測試結果由數字表頭直接顯示。本測試儀特贈設測試結果分類功能，大分類10類。
探頭選配：根據不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。配探頭，也可測試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。
測試臺選配：一般四探針法測試電阻率/方阻配HAD-T-A或HAD-T-B或HAD-T-C或HAD-T-F型測試臺。二探針法測試電阻率測試選HAD-T-K型測試臺，也可選配HAD-T-D型測試臺以測試半導體粉末電阻率，選配HAD-T-G型測試臺測試橡塑材料電阻率。詳見《四探針儀器、探頭和測試臺的特點與選型參考》
儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩定性好、智能化程度高、結構緊湊、使用簡便等特點。
儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。
三、基本技術參數
1. 測量范圍、分辨率（括號內為可向下拓展1個數量級）
電    阻：10.0×10-6 ～ 200.0×103 Ω,    分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103 Ω
         （1.0×10-6 ～ 20.00×103 Ω,    分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω）
電阻率：10.0×10-6 ～ 200.0×103 Ω-cm   分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103 Ω-cm
         （1.0×10-6 ～ 20.00×103 Ω-cm 分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω-cm）
方塊電阻：50.0×10-6 ～ 900.0×103 Ω/□    分辨率5.0×10-6 ～ 0.5×103 Ω/□
         （5.0×10-6 ～ 100.0×103 Ω/□ 分辨率0.5×10-6 ～ 0.1×103 Ω/□）
2. 材料尺寸(由選配測試臺和測試方式決定)
直    徑： HAD-T-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，手持方式不限
HAD-T-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm，手持方式不限.
長(高)度：測試臺直接測試方式 H≤100mm,    手持方式不限.
測量方位: 軸向、徑向均可

量程劃分及誤差等級

滿度顯示	200.0	20.00	2.000	200.0	20.00	2.000	200.0	20.00	2.000
常規量程	kΩ-cm/□	kΩ-cm/□		Ω-cm/□			mΩ-cm/□		---
大拓展量程	---	kΩ-cm/□		Ω-cm/□			mΩ-cm/□		mΩ-cm/□
基本誤差	±2%FSB ±4LSB	±1.5%FSB ±4LSB	±0.5%FSB±2LSB				±0.5%FSB ±4LSB		±1.0%FSB ±4LSB