北京恒奧德儀器儀表有限公司
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閱讀:153發布時間:2015-12-3
半導體泵浦激光原理實驗系統/泵浦激光原理實驗系統 型號;TP-XGL-2
TP-XGL-2型半導體泵浦激光原理實驗系統采用波長為808nm的半導體泵浦源,激光晶體為ND:YVO4以及KTP倍頻晶體等,構成整個實驗系統。主要適用于大學近代物理教學,學生可以自己動手,通過調整激光器光路,觀察倍頻現象,并測量倍頻效率、相位匹配角等參數,從而進一步了解和掌握激光原理及激光技術。
TP-XGL-2型半導體泵浦激光原理實驗系統采用波長為808nm的半導體泵浦源,激光晶體
為ND:YVO4以及KTP倍頻晶體等,構成整個實驗系統。主要適用于大學近代物理教學,學生可以自己動手,通過調整激光器光路,觀察倍頻現象,并測量倍頻效率、相位匹配角等參數,從而進一步了解和掌握激光原理及激光技術。
成套性:
光學導軌、二維調整架、四維調整架;
泵浦光源:808nm半導體激光器
指示光源:He-Ne激光器
晶體:ND:YVO4以及KTP
輸出鏡 激光功率計
可開實驗:
半導體激光(LD)與LD泵浦固體激光器的原理與區別
激光閥值、激光斜率的測量
激光倍頻原理和實驗
激光發散角測量
激光器光斑尺寸的測量
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