（一）選型注意事項細則
1、為什么選擇時代涂層測厚儀，時代產品的優勢在哪里？
答：首先時代產品有非常高的質量保障，擁有大的生產線，近二十年的生產歷史，目前國內占有率在70％以上，服務方面，時代公司國內有20多家分公司，數百家代理機構，zui大限度的實現當地購買就近維修。作為一家以檢測儀器為主業在深交所上市的高薪技術企業，時代公司在生產、開發、銷售各方面擁有非常雄厚的實力。
2、時代涂層測厚儀主要測量什么材料的涂層？
答：時代涂層測厚儀可以測量磁性金屬基材上的非磁性涂層的厚度，非磁性金屬基材上非導電層的厚度。
3、時代涂層測厚儀可以測非金屬材料上的涂層嗎？
答：目前時代產的涂層測厚儀還不能夠測量非金屬材料上的涂層厚度，只能測量鐵基上非磁性材料的涂層，非鐵基金屬材料上絕緣層的厚度。
另：對于非金屬基體材料的涂層測量目前可選擇電解、X射線、超聲涂層等方面的儀器，但是各種方式都有利弊，電解會破壞材料，X射線測厚儀造價比較高，超聲涂層測厚儀準確度及穩定性不是很好，目前有很多用戶使用時代測厚儀通過間接方法進行測量，例如：噴涂過程中將金屬材料與非金屬材料同時噴涂，然后測量同一工藝下的金屬涂層厚度，間接得出非金屬材料噴涂的厚度。
4、時代涂層測厚儀可以測高溫材料的涂層嗎？
答：時代測厚儀不能測量高溫材料，原則上只能測60度以下的材料。
5、時代涂層測厚儀可以測量鍍鎳層的厚度嗎？
答：不能！因為鎳既導磁有導電，所以不能測量鍍鎳層的厚度。
6、我廠的涂層為防火材料，厚度在 5-8個毫米，能否使用貴廠的產品進行測量。
答：選配TT260配以F10探頭，可測量0－10mm的涂層厚度。
7、鋼管的內外壁都鍍有鍍層，能否測量？
答：對于滿足測量材料要求的管道內壁的電鍍層時代有專門的F1/90探頭，zui小半徑要求：
R＞7mm即可。
8、鍍層在5個微米左右可以測量嗎？用哪款儀器更合適？
答：選配時代F400型探頭可以穩定的測量5um的厚度
☆9、銅上鍍鉻能測嗎 ？
答：時代渦流測厚儀可以測量銅上鍍鉻的工件，但是鉻層必須小于40um。
10、可以測量薄膜、紙張的厚度嗎？
答：對于滿足厚度要求的薄膜、紙張的厚度通過底部襯金屬基材的方式是可以測量的，目前這方面的應用客戶很多。
11、時代測厚儀可以測量螺桿上螺紋涂層的厚度嗎？
答：直徑比較小的螺桿上面螺紋涂層的厚度目前時代儀器不能測量。
12、什么情況下選擇配通訊軟件，時代通訊軟件有哪些功能？
答：目前時代涂層測厚儀中TT260可以選配通訊軟件，新版軟件在原軟件基礎上進行了升級，功能強大實用性強，包括聯機下載、數據存儲、測量分析、等，輸出方式有WORD文檔、EXCEL表格、TXT文本、HTML網頁，可與計算機實現實時傳輸、實時打印。當用戶需要對測量數據進行系統分析建立數據庫時建議選用時代TT260通訊軟件。
13、CN02探頭是用來測什么材料的？
答：CN02探頭是專門用來測量線路版上銅箔厚度的，量程為0－200um
（二）影值的因素
1．影響因素的有關說明
a) 基體金屬磁性質
磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實際應用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準；亦可用待涂覆試件進行校準。
b) 基體金屬電性質
基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關。使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準。
c) 基體金屬厚度
每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表1。
d) 邊緣效應
本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內轉角處進行測量是不可靠的。
e) 曲率
試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。
f) 試件的變形
測頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數據。
g) 表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應增加測量的次數，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點；或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點。
g) 磁場
周圍各種電氣設備所產生的強磁場，會嚴重地干擾磁性法測厚工作。
h) 附著物質
本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質敏感，因此，必須清除附著物質，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。
i) 測頭壓力
測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數，因此，要保持壓力恒定。
j) 測頭的取向
測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應當使測頭與試樣表面保持垂直。
2．使用儀器時應當遵守的規定
a) 基體金屬特性
對于磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質，應當與試件基體金屬的電性質相似。
b) 基體金屬厚度
檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果沒有，可采用3.3)中的某種方法進行校準。
c) 邊緣效應
不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內轉角等處進行測量。
d) 曲率
不應在試件的彎曲表面上測量。
e) 讀數次數
通常由于儀器的每次讀數并不*相同，因此必須在每一測量面積內取幾個讀數。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內進行多次測量，表面粗造時更應如此。
f) 表面清潔度
測量前，應清除表面上的任何附著物質，如塵土、油脂及腐蝕產物等，但不要除去任何覆蓋層物質。
