詳細摘要： 無線多層土壤水分速測儀QS-SFY-III第三代土壤水分速測儀采用無線多層技術，通過手機對四層水分含量數據進行采集，再通過無線網絡發送到云端服務器，主要用于農業...
產品型號：所在地：北京市更新時間：2016-03-29 在線留言北京金時速儀器設備經營部
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<ul id="qqie6"></ul> 北京金時速儀器設備經營部
詳細摘要： 無線多層土壤水分速測儀QS-SFY-III第三代土壤水分速測儀采用無線多層技術，通過手機對四層水分含量數據進行采集，再通過無線網絡發送到云端服務器，主要用于農業...
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詳細摘要： QS-SFY普及版土壤墑情速測儀/土壤水分測定儀儀器發射特定頻率的電磁波，電磁波沿不銹鋼探針傳輸到達底部后返回，檢測探頭輸出的電壓，由于土壤介電常數的變化通常取...
產品型號：所在地：北京市更新時間：2016-03-29 在線留言
詳細摘要： KDB-1涂層/薄膜方塊電阻測試儀本方阻測試新產品為薄膜測試提供機械、電氣兩方面的保護，在寬廣的量程范圍內，使各種電子薄膜能得到準確、無損的方塊電阻測量結果。
產品型號：所在地：北京市更新時間：2016-03-29 在線留言
詳細摘要： KDB-2B金屬薄膜方塊電阻測試儀配有雙數字表：一塊數字表在測量顯示硅片電阻率的同時，另一塊數字表（以萬分之幾的精度）適時監測全過程中的電流變化，使操作更簡便，...
產品型號：所在地：北京市更新時間：2016-03-29 在線留言
詳細摘要： KDB-3雙組合四探針方阻/電阻率測試儀是根據標準SEMI MF1529設計，雙組合測試方法使用四探針的方式不同于其他ASTM測量半導體電阻率或薄層電阻的方法。
產品型號：所在地：北京市更新時間：2016-03-29 在線留言
詳細摘要： STY-2R全類型整流法導電型號測試儀是嚴格按照標準SEMI MF42-1105及國家標準GB/T1550中的全類型整流法設計生產。
產品型號：所在地：北京市更新時間：2016-03-29 在線留言
詳細摘要： LT-1高頻光電導少子壽命測試儀 儀器采用GB/T1553-1997中硅單晶少數載流子壽命測定高頻光電導衰減法；測試硅單晶電阻率范圍：ρ﹥2Ω·㎝，測...
產品型號：所在地：北京市更新時間：2016-03-29 在線留言
詳細摘要： LT-100C數字式硅晶體少子壽命測試儀該設備是按照國家標準GB/T1553“硅單晶少數載流子壽命測定的高頻光電導衰減法"設計制造。
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詳細摘要： WJ-100A型微波光電導載流子復合壽命測試儀是參照半導體設備和材料組織SEMI標準MF1535-0707及國家標準GB/T 26068-2010設計制造。
產品型號：所在地：北京市更新時間：2016-03-29 在線留言
詳細摘要： LT-1B高頻光電導少數載流子壽命測試儀是參照半導體設備和材料組織SEMI標準MF1535-0707及國家標準GB/T 26068-2010設計制造。
產品型號：所在地：北京市更新時間：2016-03-28 在線留言
詳細摘要： WJ-100C型微波光電導載流子復合壽命測試儀是參照半導體設備和材料組織SEMI標準MF1535-0707及國家標準GB/T 26068-2010設計制造。
產品型號：所在地：北京市更新時間：2016-03-28 在線留言
詳細摘要： WJ-100C型微波光電導載流子復合壽命測試儀-配工控機是參照半導體設備和材料組織SEMI標準MF1535-0707及國家標準GB/T 26068-2010設計...
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詳細摘要： KDY-2成套兩探針電阻率測試儀（測檢磷檢硼棒）KDY-2型兩探針電阻率測試儀（以下簡稱兩探針儀）是按照我國國家標準GB/T1551-1995及美國材料與試驗協...
產品型號：所在地：北京市更新時間：2016-03-28 在線留言
詳細摘要： 成套兩探針測試儀（測細硅芯）KDY-2KDY-2型兩探針電阻率測試儀（以下簡稱兩探針儀）是按照我國國家標準GB/T1551-1995及美國材料與試驗協會（AST...
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詳細摘要： 成套兩探針測試儀（測鍺錠）KDY-2KDY-2型兩探針電阻率測試儀是按照我國國家標準及美國材料與試驗協會（ASTM）*的材料驗收檢測方法“兩探針法"設計。
產品型號：所在地：北京市更新時間：2016-03-28 在線留言
詳細摘要： KDY-2型兩探針電阻率測試儀是按照我國國家標準GB/T1551-1995及美國材料與試驗協會（ASTM）*的材料驗收檢測方法“兩探針法"設計
產品型號：所在地：北京市更新時間：2016-03-28 在線留言
詳細摘要： KDY-4四探針電阻率測試儀是嚴格按照硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）及國家標準設計制造，并針對目前常用的四探針電阻率測試儀存在的問題加以改進。
產品型號：所在地：北京市更新時間：2016-03-28 在線留言
詳細摘要： HP系列四探針探頭是一種專門測量半導體薄層電阻（面電阻）的方塊電阻測試儀配用的四探針測試探頭，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜（ITO透明氧化膜），金屬薄膜…...
產品型號：所在地：北京市更新時間：2016-03-28 在線留言
詳細摘要： ST-21L型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻（表面電阻）的新型儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜（...
產品型號：所在地：北京市更新時間：2016-03-28 在線留言您感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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