泰克為DSA8300采樣示波器推出光模塊

閱讀：4972發(fā)布時間：2017-6-26

　　日前，泰克科技公司為DSA8300采樣示波器推出光模塊，其不僅擁有業(yè)內zui高的模板測試靈敏度和zui低的噪聲，還提供了許多新功能，提高了生產容量，改善了當*G設計投產時的良品率。泰克科技還為其400G測試解決方案推出了多種增強功能，包括IEEE以太網標準推動的發(fā)射機和色散眼圖閉合(TDECQ) PAM4及光測試相關配套測量。

　　在美國加里福尼亞州洛杉磯2017年3月23日舉辦的OFC光網絡和通信展覽會上，泰克科技演示了模塊和功能，以及泰克為100G/400G光特性分析和驗證提供的解決方案。

　　“隨著100G設計投產，制造良品率變得至關重要。”泰克科技公司高性能示波器總Brian Reich說，“我們zui低的固有噪聲為測試結果提供了更多信心，推動著光器件和互連產品不斷改善制造良品率。同時，我們通過提供完善的工具和功能，深入分析及調試新一代數據傳輸技術，繼續(xù)400G發(fā)展。”

　　當安裝在DSA8300采樣示波器中時，80C17和80C18光模塊提供了-14 dBm的模板測試靈敏度，超過了28 GBd PAM4標準要求，同時提供3.9 μW的業(yè)內的噪聲性能，并支持廣泛的波長。通過兩通道80C18，光制造測試工程師可以使吞吐量和容量翻一番。如果器件發(fā)生故障，泰克提供了多種分析工具，可以分解噪聲和抖動的信號成分，幫助工程師了解底層問題。

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