全新參數分析儀降低特性分析復雜度，加快獲得信息的速度

　　的測量解決方案提供商——泰克科技公司日前推出可以量身定制的全面集成的Keithley 4200A-SCS參數分析儀，通過降低新用戶或偶爾使用的用戶面臨的特性分析復雜度，簡化測試設置，提供清楚的結果，加快了用戶獲得半導體器件、材料和工藝洞察力的速度。
　　　　Keithley 4200-SCS參數分析儀已經取得了巨大的成功，在此基礎上，新推出的4200A-SCS儀器采用現代工業設計，擁有全新圖形用戶界面及多種自學工具，如儀器內嵌的專家指導視頻。其結果，是測試設置時間縮短達50%，操作明顯更容易、更直觀。易用性對半導體器件研究、器件故障分析或可靠性測試等應用尤其重要，在這些應用中，多個用戶之間要共享儀器資源。
　　
　　“參數分析對商用前分析新型半導體器件、材料或測試器件的可靠性至關重要。但是，科研人員可能只需偶爾執行這些測試，因此很難成為使用參數測試儀器的專家。”泰克科技公司吉時利產品線總Mike Flaherty說，“正因如此，我們不遺余力地使4200A-SCS設置和學習操作方面特別簡便，即使對以前沒有參數分析儀經驗的用戶也不例外。”
　　
　　新型開關模塊
　　
　　泰克深知，各種測量給半導體研究增加了進一步的復雜度，因此還推出Keithley 4200A-CVIV四通道IV/CV開關模塊。這個模塊用于4200A-SCS主機，能夠在SMU(I-V)測量與電容-電壓（C-V）測量之間隨意切換，用戶可以把C-V測量移動到任何器件端子，而不需抬起探針或移動電纜。
　　
　　由于新型寬屏高清顯示器，4200A-SCS為交互式測試和試驗提供了更多的屏幕空間。這種顯示器與全新用戶界面相結合，既為偶爾使用的用戶提供了直觀的操作能力，又為專家用戶提供了所需的功能。全新用戶界面包括專家視圖，融匯了世界各地吉時利應用工程師的知識和智慧。這些視頻縮短了用戶的學習周期，在發生意想不到的結果時幫助用戶調試問題，對其看到的結果樹立信心。
　　
　　與上一代儀器一樣，4200A-SCS是一種全面集成的模塊化參數分析儀，可以分析材料、半導體器件和工藝的電氣特點。4200A-SCS由進行I-V特性分析的多個源測量單元、用于AC阻抗測量的電容-電壓模塊以及執行脈沖式I-V、波形捕獲和瞬態I-V測量的超快速脈沖測量單元組成，為科研人員或工程師進行材料研究、半導體器件設計、開發或生產提供了所需的關鍵參數。