PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱是測試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?，或封裝體引腳間因污染造成短路等。
艾思荔PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱的安全裝置有：
鍋內(nèi)安全裝置：鍋門若未關(guān)緊則機(jī)器無法啟動(dòng)。
安全閥：當(dāng)鍋內(nèi)壓力超過大工作值主動(dòng)排氣泄壓。
雙重過熱保護(hù)裝置：當(dāng)鍋內(nèi)溫度過高時(shí)，機(jī)器嗚叫警
報(bào)并主動(dòng)切斷加熱電源。
門蓋保護(hù)：ABS材質(zhì)制成可防止操縱人員接觸燙傷。
PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱的特點(diǎn)：
具有主動(dòng)加水功能并且在嘗試過程中水位過低時(shí)主動(dòng)補(bǔ)水。
嘗試過程主動(dòng)運(yùn)轉(zhuǎn)至完成結(jié)束，應(yīng)用簡便。
溫度克制：LED數(shù)字型溫度克制器可作準(zhǔn)確嘗試溫度之設(shè)定、克制及顯現(xiàn)。
計(jì)時(shí)器：LED數(shù)字型計(jì)時(shí)器，當(dāng)鍋內(nèi)溫度到達(dá)後才開始計(jì)時(shí)以確保嘗試*。
的壓力／溫度表隨時(shí)顯現(xiàn)鍋內(nèi)壓力與相對(duì)溫度。
運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)流水器主動(dòng)排出未飽和蒸氣以達(dá)到蒸氣品質(zhì)。
一體成型矽膠門墊圈，氣密度良好，且應(yīng)用壽命長。
嘗試箱內(nèi)經(jīng)拋光處理經(jīng)久耐用標(biāo)致不沾污。
PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱試驗(yàn)LED光源衰退原因
LED具有低電壓、低能耗、長壽命、高可靠性、易維護(hù)等優(yōu)點(diǎn)，已成為照明行業(yè)的主流。雖然LED光源已逐步取代其他光源成為照明行業(yè)的主流，但其壽命及其可靠性仍有待提高，這已成為現(xiàn)階段的研究重點(diǎn)。
LED光源可靠性通常采取PCT高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)進(jìn)行一個(gè)溫度加速老化試驗(yàn)，在LED樣品試驗(yàn)中隨著老化時(shí)間的增長，會(huì)產(chǎn)生光衰退，而產(chǎn)生光衰退的原因有熒光粉、硅膠以及芯片的衰減。
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