腐蝕損壞速率在很大程度上取決于試驗樣品表面的含氧鹽溶液和試驗樣品的溫度以及環(huán)境的溫度和濕度。
在試驗期間，噴霧時間足以使得試驗的樣品充分潤濕，而且噴霧還要在試驗樣品濕熱條件下面貯存一段時間以后重復(fù)進(jìn)行。因此這種試驗方法在某種程度上是模擬天然鹽霧環(huán)境的。
試驗樣品在噴霧過程當(dāng)中不通電；在濕熱貯存期間，通常也不通電。本標(biāo)準(zhǔn)等效采用的是標(biāo)準(zhǔn)IEC 68—2—52（1984）《試驗Kb：交變鹽霧試驗方法》。
鹽霧試驗箱（室）必須用耐鹽霧腐蝕和不影響試驗結(jié)果的材料制造。鹽霧試驗箱（室）的結(jié)構(gòu)，包括產(chǎn)生鹽霧的方式應(yīng)該可以達(dá)到下述要求：
a.鹽霧試驗箱（室）的條件應(yīng)達(dá)到規(guī)定的范圍。
b.鹽霧試驗箱（室）應(yīng)該要有足夠大的容積，而且要保持均勻恒定的試驗條件（不受湍流的影響），試驗的條件不因放入試驗樣品而受到影響。
c.試驗期間鹽霧不可以直接噴射到試驗樣品上面。
d.鹽霧試驗箱（室）墻壁或者其他部位積聚的液滴不得滴在試驗樣品上。
e.為了防止箱內(nèi)壓力升高并且保持鹽霧分布均勻，鹽霧試驗箱（室）內(nèi)應(yīng)該有適當(dāng)?shù)呐艢饪祝?yīng)該防止排氣孔在箱（室）內(nèi)壓力升高并且要保持鹽霧分布均勻，鹽霧試驗箱（室）內(nèi)應(yīng)該有適當(dāng)?shù)呐艢饪祝⑶覒?yīng)該防止排氣孔在箱（室）內(nèi)產(chǎn)生強氣流。
濕熱箱（室）應(yīng)滿足GB 2423.3—81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ca：恒定濕熱試驗方法》中的設(shè)備要求，即相對濕度為溫度為40±2℃。
有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)該規(guī)定試驗樣品在試驗前的清潔方法，還應(yīng)該說明是不是要去掉臨時涂封。清潔方法應(yīng)不影響鹽霧對試驗樣品的腐蝕作用。試驗前應(yīng)該盡可能避免用手接觸試驗樣品的表面。
在恢復(fù)處理前和（或）后，對于試驗樣品進(jìn)行外觀檢查，并按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定對試驗樣品進(jìn)行電性能和機械性能的檢測。
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