測試手機內存卡的目的及要求是什么

測試手機內存卡的目的及要求是什么

蒸汽老化機    臭氧老化箱   紫外線老化箱     高溫老化箱 恒溫恒濕箱 冷熱沖擊箱 環(huán)境試驗箱

冷熱沖擊試驗箱的測試手機內存卡的目的及要求為以下幾點,供參考

一、冷熱沖擊箱試驗目的：確定測試產品在周圍大氣溫度急劇變化時的適應性及被破壞性www.asliyq.com

二、冷熱沖擊試驗箱試驗條件：高溫箱（RT～150℃）低溫箱（RT～-40℃）,測試溫度保持時間為1小時或是直至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定.以時間長者為準,循環(huán)次數(shù),針對不業(yè)不同廠家所對應的試驗要求不一樣,按照標準上的試驗方法進行測試

三、恢復：測試產品從試驗箱內取出后,要在正常的試驗大氣條件下來進行恢復,直到試驗樣品達到溫度穩(wěn)定

四、冷熱沖擊試驗箱的測試手機內存卡的要求：www.asliyq.com

  a.采用高溫箱和低溫箱進行冷熱沖擊測試,以提供試驗樣品經受周圍空氣溫度急劇發(fā)生變化的環(huán)境溫度

 c.低溫區(qū)的要求,須符合GJB150.4-86《軍用設備環(huán)境試驗方法低溫試驗》的3章各條所規(guī)定的測試要求

 b.高溫區(qū)的要求,須符合GJB150.3-86《軍用設備環(huán)境試驗方法高溫試驗》的3章各條所規(guī)定的測試要求

 d.冷熱沖擊試驗箱可提供高溫試驗部分和低溫試驗部分,分別符合GJB150.3-86和GJB150.4-86的3章各條所規(guī)定的測試要求

 e.試驗箱的容積須保證在試驗樣品放入候補超過試驗溫度保持時間的10%就能使試驗箱（室）溫度達到GJB150.1-89中3.2條規(guī)定的試驗條件容差范圍之內

五、冷熱沖擊試驗箱控制系統(tǒng):www.asliyq.com

低溫區(qū)與高溫區(qū)轉換時間≤15s

溫度恢復時間≤5min

六、冷熱沖擊試驗箱參照標準：www.asliyq.com

GB/T2423.1.2、GJB150.4、GB/T2423.2、GB10592、GJB150.3

以上是關于環(huán)境試驗箱的相關信息，如需了解更多關于各種環(huán)境試驗箱的保養(yǎng)、維護、維修等信息，請！