GB/T 2423 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)的組成部分

GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫（IEC 60068-2-1：2007，IDT）低溫試驗(yàn)箱

　　GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)（IEC 60068-2-78：2001，IDT）恒溫恒濕試驗(yàn)箱

　　GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db：交變濕熱（12h+12h循環(huán)）（IEC 60068-2-30：2005，IDT）高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱

　　GB/T 2423.5-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則：沖擊（idt IEC 60068-2-27:1987）冷熱沖擊箱

　　GB/T 2423.6-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則：碰撞（idt IEC 60068-2-29:1987）

　　GB/T 2423.7-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ec和導(dǎo)則：傾跌與翻倒（主要用于設(shè)備型樣品）（idt IEC 60068-2-31:1982）

　　GB/T 2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed：自由跌落（idt IEC 60068-2-32:1990）跌落試驗(yàn)機(jī)

　　GB/T 2423.10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc：振動（正弦）（IEC 60068-2-6:1995，IDT）振動試驗(yàn)機(jī)

　　GB/T 2423.15-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ga和導(dǎo)則：穩(wěn)態(tài)加速度（IEC 60068-2-7:1986，IDT）

　　GB/T 2423.16-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)J和導(dǎo)則：長霉（IEC 60068-2-10:2005，IDT）

　　GB/T 2423.17-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ka：鹽霧（IEC 60068-2-11:1981，IDT）鹽霧機(jī)

　　GB/T 2423.18-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Kb：鹽霧，交變（氯化鈉溶液）（idt IEC 60068-2-52:1996）鹽霧耐腐蝕試驗(yàn)箱

　　GB/T 2423.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)M：低氣壓試驗(yàn)方法（IEC 60068-2-13:1983，IDT）

　　GB/T 2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化（IEC 60068-2-14:1984，IDT）

　　GB/T 2423.23-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)Q：密封