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<ul id="qqie6"></ul> pct高壓加速壽命試驗箱(又名PCT高壓加速老化試驗機)主要是測試半導體封裝之濕氣能力，()待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗的目的是提高環境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產品或系統的壽命試驗時間。
艾思荔儀器于2005年研發生產pct高壓加速壽命試驗箱，經過艾思荔人二十五余年不斷努力的奮斗，艾思荔儀器pct高壓加速壽命試驗箱系列環境試驗設備不斷發展成為國內，注重設備質量的同時更注重的服務，這正是艾思荔一步步邁進的根本原因，艾思荔在各個行業均有良好的口碑和*
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