HAST高度加速壽命試驗機原理

                          HAST高度加速壽命試驗機原理
　　●艾思荔 HAST高度加速壽命試驗機隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用了新的壓力蒸煮鍋試驗方法。壓力蒸煮鍋試驗方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT（HAST）現在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC（電工委員會）所標準化。
　　●HAST高度加速壽命試驗機加速老化壽命試驗的目的是提高環境應力（如：溫度）與工作應力（施加給產品的電壓、負荷等），加快試驗過程，縮短產品或系統的壽命試驗時間。
　　產品規格（mm）：
　　1.型號:PCT-250工作室尺寸:Φ250×D400
　　2.型號:PCT-300工作室尺寸:Φ300×D500
　　3.型號:PCT-400工作室尺寸:Φ400×D600
　　4.型號:PCT-500工作室尺寸:Φ500×D700
　　HAST高度加速壽命試驗機特性優勢:
　　●試驗過程自動運轉至完成結束,使用簡便。
　　●三重壓力安全保護裝置，采用控制器內部兩段式超溫保護+機械式壓力安全保護裝置。
　　●手動安全保護排壓伐，警急安全裝置兩段式自動排壓伐。
　　●雙重過熱保護裝置：當鍋內溫度過高時，機器鳴叫警報并自動切斷加熱電源。
　　HAST高度加速壽命試驗機通用測試方法
　　JEDEC標準22-110B：高加速應力測試溫度和濕度
　　JEDEC標準22-118：加速耐濕性-無偏張炳良說：
　　IEC出版物60068-2-66（1994-6）：穩態濕熱
　　IEC出版物60749修改1：濕熱，穩態高加速
　　pct飽和高壓試驗室標準●pct飽和高壓試驗機●pct飽和高壓試驗儀介紹●pct飽和高壓高溫試驗箱精密