宇電多回路溫控器品質優秀，滿足半導體制造多樣化測試需求

隨著半導體產業走入芯片融合時代，工藝和應用的復雜度不斷提升，想要生產出好的產品，“測試先行"尤為重要。測試設備主要用于半導體制造過程中檢測芯片性能與缺陷，幾乎每一道工藝完成后都要進行，其中高精度溫度控制貫穿于整個測試環節的始末。

宇電合作伙伴中，江蘇某測試儀器和設備供應商，專業從事光網絡測試、光芯片測試、電性能測試和功率芯片測試。自2020年起，激光器芯片老化測試需求激增，對溫控器品質和性能的要求更苛刻，一直在尋求激光器老化設備的理想溫控解決方案。

通過對比驗證，宇電AI-7548D71溫控器在控制效果、通訊速度、安全性與穩定性方面滿足該設備供應商在不同測試場景下的多樣化需求。提升測試結果的準確性和可靠性。

客戶評價：“我們曾在設備上進行過不同品牌溫控系統的控制測試。結果顯示，宇電AI-7548D71溫控模塊的控制效果明顯優于其他品牌，與國際品牌控溫效果一致。"

宇電多路溫控器 全面提升設備控制品質

激光器老化測試設備的溫度一般為40-150℃，芯片對溫度變化極為敏感，任何微小的波動將對測試結果產生顯著影響，宇電制定的溫度控制方案為設備生產商解決生產難題。

高精度溫控，提高篩選不良品效率

宇電AI-7548D71溫控器搭載的高精密APID自整定自適應算法，將外部干擾引起的溫度波動控制在最小限度內，提供穩定測試環境，幫助設備商篩選出，因溫度變化導致的焊料老化、分層、鍵合線脫落、斷裂的不良芯片。

多通道獨立控制，功能靈活

老化設備同時測試多顆芯片，需要對每個測試夾具中的溫度進行單獨控制，觀察芯片在惡劣環境中的表現。

宇電AI-7548D71溫控器具有多通道獨立控制功能，靈活性強，確保每個芯片都能在其特定的溫度條件下進行測試，進一步提高測試的準確性和可靠性。

精巧設計，節省安裝空間

為提高結果準確性，要在大量樣本上進行測試，溫控點位增多，而老化測試設備集成度高，柜內空間有限。宇電AI-7548D71溫控器設計精巧，寬度僅22.5mm，單臺儀表集成4路控制功能，節省寶貴的安裝空間。

結語

宇電AI-7548D71工業溫控器除應用在半導體制造環節，還可應用于如鋰電等多種行業，降本增效，節約能耗，實現價值的最大實現。

隨著全球對芯片需求的激增，晶圓廠、設備商和供應鏈的所有環節都在不斷優化工藝，利用新技術盡可能提高產能和品質。宇電將繼續與工業客戶緊密合作，利用先進的溫控技術幫助客戶縮短測試周期，持續提升測試良率，優化成本控制，幫助客戶在激烈的市場競爭中脫穎而出，用科技賦能半導體等行業高質量發展。