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IC芯片卡雙向扭曲試驗機公司承諾

時間：2020/3/10閱讀：464

IC芯片卡雙向扭曲試驗機的用途用于檢測磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測試。

IC芯片卡雙向扭曲試驗機由衡翼儀器研制成功，該測試儀工位為15工位，其中5工位為長邊彎曲，5工位為短邊彎曲，5工位為扭曲試驗。將計數次數增加到9999次，計數方法采用非接處光電計數(傳統采用開關量計數)，將故障率幾乎降為0,彎曲量和扭轉角度任意可調。

衡翼儀器IC卡動態彎扭試驗機專業服務國網電網客戶，為企業客戶及國內外研究單位提供定制化研發服務，衡翼更專業，更值得信賴。

IC芯片卡雙向扭曲試驗機本儀器針對性IC卡在國標GB/T 16649.1，國標GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標準等試驗標準中的彎曲、扭矩的試驗; *符合以上標準。

IC芯片卡雙向扭曲試驗機技術參數:

外形尺寸：L670 X W380 X H220

儀器重量：70kg

電壓：AC220V±5%

功率：35W

測試速度：彎曲扭曲30r/min及0.5Hz

測試周期：1~9999次

扭曲度：±15°±1° 雙向d=86 mm

正反向各15°，總扭曲角度30°

長邊位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)

長邊小位移量為2mm±0.50mm，

短邊大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)

長邊小位移量為1mm±0.50mm，

夾具安裝尺寸*按照國家標準執行。

IC芯片卡雙向扭曲試驗機公司承諾：

1.購機前，我們專門派技術人員為您設計的流程和方案

2.購機后，將免費指派技術人員為您調試安裝

3.整機保修一年，產品終身維護

4.常年供應設備的易損件及耗品確保儀器能長期使用

IC芯片卡雙向扭曲試驗機公司承諾

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