窄脈沖LIV測試系統的典型應用有哪些？

  5G的核心應用是物聯網、車聯網、大數據的采集等應用領域，其中手機3D攝像頭、激光雷達、無人駕駛傳感器等器件，實際應用中往往是工作在窄脈沖大電流的工作條件下。例如，手機3D   攝像頭的核心器件是VCSEL的半導體激光器陣列，在一個很小面積上，往往有幾十至幾百顆激光器IC陣列。在實際應用時，需要給激光器提供超窄脈沖電流，驅動激光器發出一個超窄脈沖的激光，而這個超窄脈沖電流大小與探測距離密切相關，往往需要脈沖電流達到20A以上，脈沖寬度越小越好，需要達到μs甚至ns級。這個激光器陣列IC，以及在后續序列封裝的測試時，必須要有一個達到30A的超窄脈沖電流源。激光器芯片的測試比較復雜，牽涉到光、電的測量，也要考慮封裝形式的區別。

   激光器芯片的測量一般都要看LIV(光強-電流-電壓)數據，光電參數受熱的影響比較大，隨著溫度的升高，將直接影響激光器輸出功率、閾值電流密度、電光轉化效率、微分量子效率、偏振度等性能，并導致半導體激光器壽命和可靠性的下降，甚至會損毀芯片，最終影響器件可靠性。另外，大功率激光器芯片在直流以及寬脈沖下的測試結果不準;電源的波動將會影響激光器的壽命，同時會造成光功率不穩定及器件發熱不穩定等。

   激光器LIV窄脈沖測試系統典型方案 

   光器件測試儀器的研究與開發，技術上涉及前沿的小信號處理技術、射頻電路技術、高速電路技術、數字信號處理技術、嵌入式軟件開發技術、自動控制技術、工程技術等，綜合性很強，需要企業在自己的領域內有較長時間的技術與理論積累，進入門坎高。為了滿足激光器產業鏈對窄脈沖LIV測試的需求，普賽斯儀表與多應用領域的頭部企業進行了深入的探討，基于多年的技術沉淀與創新，推出了PL窄脈沖LIV測試系統。 

??PL系列窄脈沖LIV測試系統由PL系列脈沖恒流源、測試夾具、積分球、光纖、光譜儀等組成。測試原理LIV測試采用對激光器脈沖電流供電，測量器件兩端電壓和器件輸出光功率。LIV測試系統作為精密的電流脈沖源，驅動激光器發出不同波長的激光，激光經過特制的積分球來進行收光，積分球將具有一定發散角的光進行能量衰減，然后使用PD進行光電轉換，系統對光電流進行快速采樣，從而達到精準測算激光器所輸出的激光功率。經典的測試原理配合普賽斯PL測試系統出色的性能和嚴格的指標要求，幫助行業用戶完成了一系列富有挑戰的測試項目。

??系統優勢 集多表功能于一體，實現一機多用：快速脈沖發生器+程控電流源+峰值取樣光功率計+脈沖電壓表  通過15MS/s的數字化功能，實現脈沖發生器0.1%基本測量精度;超窄至ns級的脈沖，占空比可低至0.01%;多個精密光電流測試量程;上位機LIV算法，支持各種參數的自動計算

   脈沖高保真：脈沖無過沖、無振蕩 最快脈沖上升時間300A/μs最大30A脈沖電流輸出;兼容CW和QCW模式，精密的脈沖寬度可調節技術;超高速脈沖采樣技術，確保在窄脈沖下采樣數據準確

??更大的測試電流，實現更多的可能可以通過并聯多達4臺普賽斯PL系列設備;提供最大120A、μs級脈寬的驅動電流;同一個上位機軟件上實現大功率激光器的LIV測試

??上位機測試軟件豐富，功能強大系統配有專用上位機軟件;實現快速測試，提高測試效率。

??在激光器光譜特性等光學參數項目測量中，測試機仍需要電流源為器件供電，根據實際應用有CW和QCW模式兩種。推薦使用普賽斯PL系列窄脈沖測試系統集成使用，PL系列作為恒流電流源也可同時為光譜儀、其他自動化設備、擴展接口等提供I/O接口及合理設計的測試夾具，從而實現測試機的全參數自動化測試。

典型應用

??普賽斯儀表以先進的測試測量技術作為半導體行業科研與測試需求的基石，與時俱進為激光器測試與老化的應用場景提供專業可靠的測試測量設備，打破傳統的測試解決方案將幫助您更高效達到測試目標。PL系列激光器LIV窄脈沖測試系統、HCPL系列大功率激光器測試電源、LDBI系列多路大功率激光器老化系統等更多產品及方案詳情，歡迎聯系咨詢。