目前市場(chǎng)上有多種等級(jí)的Al可供使用，以適應(yīng)其多樣化和普及性的應(yīng)用。倫敦金屬交易所（LME）列出了兩種常用鋁純度的規(guī)格：99.5％和99.7％，每種規(guī)格均了多六種無(wú)機(jī)雜質(zhì)。由于電感耦合等離子光譜技術(shù)（ICP-OES）能夠輕松處理高基質(zhì)樣品且操作簡(jiǎn)便，因而成為測(cè)定鋁中雜質(zhì)元素的好選擇。

珀金埃爾默Avio® 系列ICP-OES是進(jìn)行此類(lèi)檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室的理想選擇。

1.

其光學(xué)設(shè)計(jì)提供出色的光通量，這對(duì)在較短的分析時(shí)間內(nèi)要測(cè)量較低的濃度非常重要。

2.

使用電荷耦合檢測(cè)器（CCD），可同時(shí)提供背景和分析物測(cè)量，這在進(jìn)行金屬基質(zhì)類(lèi)樣品分析時(shí)非常重要。

本文使用Avio 200 ICP-OES測(cè)定LME規(guī)格要求的鋁中的雜質(zhì)元素，通過(guò)極短的測(cè)量讀取時(shí)間和不足 1 分鐘的單個(gè)樣品檢測(cè)時(shí)間，輕松完成滿足檢測(cè)限要求的檢測(cè)。為防止樣品于接口處沉積而做的優(yōu)化設(shè)計(jì)，保證方法在至少4個(gè)小時(shí)內(nèi)保持穩(wěn)定。

欲詳細(xì)了解Avio 200 ICP-OES是如何根據(jù)LME規(guī)格要求在測(cè)定金屬鋁錠中的雜質(zhì)元素中體現(xiàn)其*性，掃描下方二維碼即刻獲取《按照倫敦金屬交易所指南使用Avio 200 ICP-OES分析鋁錠中的雜質(zhì)元素》及《Avio 200電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀》產(chǎn)品手冊(cè)。