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NexION 5000 ICP-MS新一代創(chuàng)新接口設(shè)計的優(yōu)勢

閱讀：2149 發(fā)布時間：2020-07-23

具有OmniRing的第二代三錐接口的新型設(shè)計專為NexION 5000 ICP-MS而研發(fā)，兼顧了靈敏度和穩(wěn)定性。該設(shè)計以三錐接口幾何結(jié)構(gòu)為基礎(chǔ)，基于簡單高效的OmniRing技術(shù)提供了*的應(yīng)對空間電荷效應(yīng)的解決方案。該設(shè)計從ICP-MS理想接口的諸多特性著手，通過減少離子流提高了傳輸效率，與此同時，還以受控的方式實現(xiàn)了離子通過接口后的加速，而不會將高能離子傳輸?shù)较掠坞x子光學(xué)系統(tǒng)中。結(jié)果是在沒有提高儀器本底水平的情況下，大大提高了分析物的信號強度。通過這種新型接口設(shè)計，能夠在強健等離子體條件下，直接以亞ppt級的背景等效濃度對復(fù)雜基質(zhì)進行分析。除了提高靈敏度，該接口設(shè)計還使NexION 5000 ICP-MS在處理具有挑戰(zhàn)性的基體時，彰顯出的穩(wěn)定性。這要歸功于三級壓降系統(tǒng)，以及將那些如錐和離子透鏡等易于樣品沉積和離子濺射的表面進行盡量小化處理的設(shè)計。

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