磁光克爾效應(yīng)磁滯回線測(cè)量?jī)x具有測(cè)量速度快，精度高，非侵入，且不需要對(duì)樣品進(jìn)行加工或切片等操作的特點(diǎn)。通過(guò)對(duì)磁滯回線的分析，用戶不但可以得到矯頑力及相對(duì)磁化強(qiáng)度等信息，亦可了解磁性薄膜磁各向異性等性質(zhì)。

詳細(xì)介紹

磁光克爾效應(yīng)磁滯回線測(cè)量?jī)x

從當(dāng)下主流的機(jī)械硬盤，到未來(lái)的磁性存儲(chǔ)單元，磁滯回線測(cè)量都是評(píng)估薄膜性質(zhì)的重要手段。相較于電學(xué)霍爾測(cè)量和震動(dòng)磁強(qiáng)計(jì)，光磁克爾效應(yīng)具有測(cè)量速度快，精度高，非侵入，且不需要對(duì)樣品進(jìn)行加工或切片等操作的特點(diǎn)。通過(guò)對(duì)磁滯回線的分析，用戶不但可以得到矯頑力及相對(duì)磁化強(qiáng)度等信息，亦可了解磁性薄膜磁各向異性等性質(zhì)。針對(duì)不同矯頑力的多層磁性薄膜結(jié)構(gòu)，磁光克爾測(cè)量可以分析出逐層的磁滯回線信息。

上海屹持光電提供的磁滯回線測(cè)量?jī)x標(biāo)準(zhǔn)系統(tǒng)按照性能優(yōu)先，穩(wěn)定性優(yōu)先的設(shè)計(jì)思路，可以滿足實(shí)驗(yàn)室研究及工業(yè)生產(chǎn) 中各種磁性薄膜材料的測(cè)試需求。針對(duì)不同磁各向異性材料的光學(xué)響應(yīng)，我們提供兩種測(cè)試組件：PMA Checker 以及 IMA Looper，兩種系統(tǒng)共享一套數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，切換方便。“控制盒+光磁主體+電腦"的套裝（如上圖所示）即是完整的設(shè)備，無(wú)需任何外置儀表（電源，鎖相放大器）客戶即可快速完成磁滯回線的測(cè)量；此外，客戶可以自主選擇使用鎖相放大器（SR830/810，Zurich MFLI）進(jìn)行數(shù)據(jù)采集，該設(shè)備預(yù)留了與鎖相放大器匹配的接口。

該磁滯回線測(cè)量?jī)x產(chǎn)品提供基于 LabView的程序，方便客戶快速上手。基于 C，Python的控制程序也可應(yīng)客戶要求提供。

磁光克爾效應(yīng)磁滯回線測(cè)量?jī)x 應(yīng)用案例

? 自旋/磁電子學(xué)
? 磁性納米技術(shù)
? 非易失性磁性隨機(jī)存儲(chǔ)器
? 磁阻研究
? 磁性薄膜

? 磁性傳感器

右圖測(cè)試樣品結(jié)構(gòu)（Si 襯底/MgO (2)/Pt (4)/Co (0.2)/[Ni (0.2)/Co (0.2)] 2 /X(2)/MgO (1)/Si (3) （厚度為納米，X=Pt, Cu, MgO, Ir, Ta, W, and Hf ）

技術(shù)參數(shù)

主要功能	垂直膜磁滯回線測(cè)量
測(cè)試模式	磁光克爾效應(yīng)-反射式
光磁主體構(gòu)成	半導(dǎo)體激光+起偏器+檢偏器+探測(cè)器+探測(cè)器放大電路+電源管理電路+樣品托+霍爾傳感器（可選）+電磁鐵
克爾角分辨率	0.001°
磁場(chǎng)強(qiáng)度1	±3600 Oe
設(shè)備控制盒構(gòu)成	數(shù)據(jù)采集模組+電磁鐵電源+系統(tǒng)供電模組
供電輸入（控制盒）	220 VAC 50 Hz
數(shù)據(jù)采集（控制盒內(nèi)）	16位精度，50kS/s
電磁鐵電源（控制盒內(nèi)）	（控制盒內(nèi)）90瓦
尺寸（光磁主體）2	60 毫米× 80毫米 × 160毫米
尺寸（控制盒）2	251 毫米× 60毫米 × 38毫米

1 更大磁場(chǎng)強(qiáng)度可按需定制

2 該尺寸不包含光學(xué)及電學(xué)連接器伸出的部分

該系統(tǒng)的定位是為客戶提供穩(wěn)定、快捷、的磁滯回線測(cè)量設(shè)備，是簡(jiǎn)單的也是可靠的。如需更多附加功能，例如：磁疇成像，微區(qū)測(cè)量，集成溫控設(shè)備，集成電學(xué)測(cè)量設(shè)備，集成樣品掃描成像等選項(xiàng)，我們建議客戶考慮 TTT-Mag-Kerr Microscope 系列產(chǎn)品。

聯(lián)·系人馬·先生

上海屹持光電技術(shù)有限公司

關(guān)鍵詞：標(biāo)準(zhǔn) 儀表連接器測(cè)量?jī)x 傳感器