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    局部放電檢測(cè)儀報(bào)價(jià) 變壓器測(cè)試儀

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    局部放電檢測(cè)儀報(bào)價(jià)!電氣設(shè)備產(chǎn)生局部放電時(shí),會(huì)產(chǎn)生電磁波,電磁波在向外傳播時(shí)會(huì)生成一個(gè)暫態(tài)的對(duì)地電壓信號(hào)。這個(gè)信號(hào)的大小與局部放電的激烈程度及放電點(diǎn)的遠(yuǎn)近有直接關(guān)系。可以利用專門的探測(cè)器進(jìn)行檢測(cè),這種探測(cè)器就是局部放電檢測(cè)儀。

    工作原理:

    局部放電測(cè)試原理是高頻脈沖電流測(cè)量法(即ERA法)。

    試品Ca在試驗(yàn)電壓下產(chǎn)生局部放電時(shí),放電脈沖信號(hào)經(jīng)耦合電容Ca 送入輸入單元,由輸入單元拾取得脈沖信號(hào),經(jīng)低噪聲前置放大器放大,濾波放大器選擇所需頻帶及主放大器放大(達(dá)到所需幅值與產(chǎn)生零標(biāo)志脈沖)后,在示波屏的橢圓掃描基線上產(chǎn)生可見的放電脈沖,同時(shí)也送至脈沖峰值表顯示其峰值。

    時(shí)間窗單元控制試驗(yàn)電壓每一周內(nèi)脈沖峰值表的工作時(shí)間,并在這段工作時(shí)間內(nèi)將示波屏的相應(yīng)顯示區(qū)加亮,用它可以排除固定相位的干擾。

    試驗(yàn)電壓表經(jīng)電容分壓器產(chǎn)生試驗(yàn)電壓過零標(biāo)志訊號(hào),可在示波屏上顯示零標(biāo)脈沖,試驗(yàn)電壓大小由數(shù)字電壓表指示。

    成套裝置:

    1. 輸入阻抗

    1~12號(hào)任選,7R號(hào)測(cè)長(zhǎng)電纜用。

    2. 視在放電量器校準(zhǔn)器(JZF10校正電量發(fā)生器,局放儀校正脈沖發(fā)生器)任選。

    3. LB系列工頻、中頻濾波器

    4. SBP系列三倍頻感應(yīng)試驗(yàn)設(shè)備

    5. 無局放電阻分壓器50KV100KV150KV200KV任選。

    6. 無局放耦合電容系列

    7. YDTW無局放試驗(yàn)變壓器系列

    8. 工頻試驗(yàn)控制臺(tái)

    名詞術(shù)語:

    局部放電檢測(cè)儀報(bào)價(jià)

    1. 局部放電

    局部放電是指在絕緣的局部位置放電,它并不構(gòu)成整個(gè)絕緣的貫通性擊穿。它包含三種放電形式:內(nèi)部放電(在介質(zhì)內(nèi)部)、沿面放電(在介質(zhì)表面)、電暈放電(在電極*)。

    2. 電荷量q

    在試品兩端瞬時(shí)注入一定電荷量,使試品端電壓的變化和由局部放電本身引起的端電壓的變化相同,此注入量即為局部放電的視在電荷量。

    3. 視在放電量校準(zhǔn)器

    視在放電量校準(zhǔn)器是一標(biāo)準(zhǔn)電量發(fā)生器,試驗(yàn)前它以輸出某固定電量加之試品兩端,模擬該試品在此電量下放電時(shí)局部放電測(cè)試儀的響應(yīng),此時(shí)調(diào)整刻度系數(shù),確定局部放電檢測(cè)儀的量程,以便在試驗(yàn)時(shí)測(cè)量該試品在額定電壓下的視在放電量。因該放電量時(shí)以標(biāo)準(zhǔn)電量發(fā)生器比較后間接測(cè)出,而非直接測(cè)出,故此放電量稱為“視在放電量”。

    校正電量發(fā)生器是測(cè)量局部放電時(shí)*的儀器,它的性能參數(shù)直接關(guān)系到測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。

    視在放電量校準(zhǔn)器由校準(zhǔn)脈沖電壓發(fā)生器和校準(zhǔn)電容串聯(lián)組成,其參數(shù)主要包括:脈沖波形上升時(shí)間、衰減時(shí)間、內(nèi)阻、脈沖峰值、校準(zhǔn)電容值等。

    校準(zhǔn)脈沖電壓發(fā)生器電壓波形上升時(shí)間為從0.1U0到0.9U0的時(shí)間,衰減時(shí)間定義為從峰值下降到0.1U0的時(shí)間。

    4.檢測(cè)阻抗

    檢測(cè)阻抗是拾取檢測(cè)信號(hào)的裝置,在使用中,應(yīng)根據(jù)不同的測(cè)試目的,被試品的種類來選擇合適的檢測(cè)阻抗,以提高局部放電測(cè)量的靈敏度、分辨能力、波形特性及信噪比。

    檢測(cè)阻抗按調(diào)諧電容范圍分1~12號(hào)。(見表1)

    5.時(shí)間窗(門單元)

    時(shí)間窗是為防止大于局部放電的干擾信號(hào)進(jìn)入峰值檢波電路而設(shè)計(jì)的一種電路裝置。因在實(shí)際試驗(yàn)時(shí),尤其是在現(xiàn)場(chǎng)做試驗(yàn)時(shí),不可避免地會(huì)引入一些干擾,所以,時(shí)間窗的使用更顯得重要。

    時(shí)間窗的工作原理是把橢圓掃描時(shí)基分成導(dǎo)通(加亮區(qū)域)和截止(未加亮區(qū)域)兩部分,通過改變時(shí)間窗的位置和寬度將放電脈沖置于導(dǎo)通(加亮區(qū)域),干擾脈沖置于截止(未加亮區(qū)域),此時(shí)儀表讀數(shù)即為放電脈沖數(shù)值,而干擾則不論大小,皆不會(huì)影響放電脈沖數(shù)值。若此時(shí)兩個(gè)時(shí)間窗同時(shí)關(guān)閉,則儀表讀數(shù)為整個(gè)橢圓上脈沖之峰值。

    技術(shù)參數(shù):

    局部放電檢測(cè)儀報(bào)價(jià)

    1.可測(cè)試品的電容范圍:6pF~250uF

    2.檢測(cè)靈敏度及允許電流(見表1)。

    3.橢圓掃描時(shí)基

    (1) 頻率:50、100、150、200、400Hz

    (2) 旋轉(zhuǎn):以30度為一檔,可旋轉(zhuǎn)120度。

    (3) 工作方式:標(biāo)準(zhǔn)-擴(kuò)展-直線。

    (4) 高頻時(shí)基橢圓的輸入電壓范圍:13~275V。

    4.顯示單元

    采用100×80mm矩形示波管,有亮度與聚焦調(diào)節(jié)旋鈕。

    5.放大器

    (1) 3dB低頻端頻fL:20、40KHz任選。

    (2) 3dB高頻端頻率fH:200、300KHz任選。

    (3) 增益調(diào)節(jié):粗調(diào)6檔,檔間增益差10倍±5%。

    (4) 細(xì)調(diào)范圍:>10倍。

    (5) 正、負(fù)脈沖響應(yīng)不對(duì)稱性:<5%。

    6.時(shí)間窗

    (1) 窗寬:5度~150度(50Hz) 連續(xù)可調(diào)。

    (2) 窗位置:每一窗可旋轉(zhuǎn)0度~170度。

    (3) 兩個(gè)時(shí)間窗可分別或同時(shí)控制。

    脈沖峰值表

    (1) 線性指示:0~10*不大于5%。

    對(duì)數(shù)指示:1~10*不大于5%。

    表1  檢測(cè)靈敏度及輸入單元允許電流值

    輸入單元序號(hào)

    調(diào)電容范圍

    靈敏度(PC)

    (不平衡電路)

    允許電流有效值

    不平衡電路

    平衡電路

    注意事項(xiàng):

    局部放電檢測(cè)儀報(bào)價(jià)

    1. 在試驗(yàn)開始加壓以前,試驗(yàn)人員必須詳細(xì)而全面地檢查一遍線路,以免線路接錯(cuò)。測(cè)試儀器處的接地線是否與接地體牢固連接,若連接不牢或在準(zhǔn)備工作時(shí)掐頭去尾線被腳踢斷,這將可能引起人身和設(shè)備事故。

    2.對(duì)于連接線應(yīng)避免將*暴露在外,防止*電暈放電,尤其對(duì)于電壓等級(jí)較高的局部放電試驗(yàn),必要時(shí)要加粗高壓連接線及加裝防電暈罩,減小因場(chǎng)強(qiáng)過高引起的電暈放電。屏蔽罩不能與試品的瓷裙相接觸。

    3. 一般情況下,在試驗(yàn)過程中,被試品在耐壓、預(yù)升壓時(shí)局部放電量都比正常值大很多,此時(shí)儀器的儀表必然會(huì)超出滿刻度。為防止儀器損壞,應(yīng)將儀器的增益粗調(diào)旋鈕逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔,以不超出滿刻度為標(biāo)準(zhǔn)。當(dāng)電壓降至測(cè)量電壓時(shí),再將增益粗調(diào)開關(guān)順時(shí)針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔,以便記錄測(cè)量值。

    4. 校正電量發(fā)生器校正完畢后,一定要從高壓端脫離,并關(guān)閉電源開關(guān),且儀器的增益細(xì)調(diào)旋鈕不可再調(diào)。因增益粗調(diào)開關(guān)每相鄰兩檔之間的關(guān)系是十倍,且檔位有指示,故升壓后根據(jù)放電量大小,可選擇合適量程。逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)時(shí),每降一檔量程擴(kuò)大十倍;反之,順時(shí)針時(shí),量程縮小十倍。

    5. 試驗(yàn)完畢后,應(yīng)對(duì)整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)再進(jìn)行一次復(fù)查校正,驗(yàn)證是否與試驗(yàn)前所校正出的刻度系數(shù)相等,以免測(cè)試儀器或其它環(huán)節(jié)在試驗(yàn)過程中發(fā)生故障而使測(cè)試結(jié)果不對(duì)。

    操作說明:

    1. 根據(jù)試品的容量Ca,耦合電容的大小Ck,選取適合序號(hào)的輸入單元。表1中調(diào)諧電容量系指與輸入單元初級(jí)繞組并聯(lián)的電容(粗略估算以按試品容量與耦合電容的容量串聯(lián)計(jì)算)。例如:試品容量為120pF,耦合電容量為1000pF,則所需檢測(cè)阻抗為有          ≈107,查表1可取2號(hào)單元。

    輸入單元應(yīng)盡量靠近試品,輸入單元經(jīng)8米長(zhǎng)的測(cè)量電纜與放大器輸入插座相連。

    接觸不良

    這種干擾源如圖1所示。其特點(diǎn)是干擾波位于橢圓時(shí)基的零點(diǎn)附近。在正負(fù)半波上對(duì)稱出現(xiàn),幅值相差不大。干擾在低電壓時(shí)即出現(xiàn)。電壓增大時(shí),干擾占位區(qū)域也增大,由于疊加效果幅值增大較慢。有時(shí)在電壓達(dá)到某一定數(shù)值后會(huì)*消失。

    造成這種干擾的原因有:試驗(yàn)回路中金屬對(duì)金屬接觸不良,塑料電線半導(dǎo)電屏蔽層中粒子間接觸不良,電容器卷繞鋁箔電極與插接片接觸不良等。

    (2)浮動(dòng)電位物體

    波形見圖2,特別是在電壓峰值之前的正負(fù)半波部分出現(xiàn)。等幅值間隙不等。由于余輝,有時(shí)成對(duì)的出現(xiàn),有時(shí)圖像有飄動(dòng)。電壓增加時(shí),根數(shù)增加,間隙縮小,中間值不變。有時(shí)電壓增加到一定值后干擾信號(hào)會(huì)消失,再降低電壓時(shí),又會(huì)重新出現(xiàn)。

    起因:金屬或碳質(zhì)導(dǎo)體之間的間隙放電。它可以發(fā)生在試樣上或測(cè)試回路中。在兩個(gè)孤立的導(dǎo)電物之間,例如地面上處于浮動(dòng)電位的多種物體間發(fā)生。

    (3)外部*電暈

    波形如圖3,特別是僅在試驗(yàn)電壓的一個(gè)半波中出現(xiàn),位于外施電壓的峰值部分,等幅值,等間距。電壓增加時(shí),放電訊號(hào)波的根數(shù)增加,但幅值總不變。

    起因:高壓電極的*或邊緣對(duì)空氣中的放電。若干擾訊號(hào)位于橢圓時(shí)基的負(fù)關(guān)周,則*電暈處于高電壓下,若干擾訊號(hào)位于時(shí)基橢圓的正半周,則*在接地部分,有時(shí)也可能高壓、接地部分都有*電暈放電,則時(shí)基橢圓的正負(fù)半周就出現(xiàn)兩組訊號(hào)。

    (4)液體介質(zhì)中的*放電

    波形見圖4,特別:在試驗(yàn)電壓正負(fù)半周峰值位置均有一組訊號(hào),同一組訊號(hào)等幅值,等間隔,一組中間值較大的訊號(hào)先出現(xiàn),隨電壓增加值也增大。一組中間值小的訊號(hào)其幅值不隨電壓變化。

    起因:在絕緣液體中發(fā)生了*或邊緣電暈放電。或一組大的訊號(hào)出現(xiàn)在正半周,則*位于高壓部分;若它出現(xiàn)在負(fù)半周,則*處于接地部分。

    (5)繼電器,接觸器的動(dòng)作

    干擾訊號(hào)波形見圖5,特點(diǎn):在時(shí)基橢圓上干擾訊號(hào)波形分布不規(guī)則,間隙地出現(xiàn),且同試驗(yàn)電壓大小無關(guān)。

    起因:閃光燈,熱繼電器,接觸器和各種火花試驗(yàn)器或有火花放電的記錄器動(dòng)作時(shí)造成。

    (6)可控硅元件

    干擾訊號(hào)波形見圖6,特點(diǎn):干擾訊號(hào)在時(shí)基橢圓上之位置固定,每一元件產(chǎn)生一個(gè)獨(dú)立的高頻脈沖訊號(hào)。電路接通,電磁耦合效應(yīng)增強(qiáng)時(shí),訊號(hào)幅值增加,也可能發(fā)生波形展寬、相移,從而在時(shí)基上占位增加。

    起因:供電網(wǎng)絡(luò)中有可控硅器件在運(yùn)行。干擾的大小同所用可控硅器件的功率直接有關(guān)。

    (7)異步電機(jī)

    干擾波形見圖7。特點(diǎn):在時(shí)基橢圓上正負(fù)半周波形出現(xiàn)對(duì)稱的二組訊號(hào),且沿掃描時(shí)基逆時(shí)針方向移動(dòng)。

    起因:異步電機(jī)運(yùn)行時(shí)產(chǎn)生的干擾訊號(hào)耦合到檢測(cè)回路中來。

    (8)螢光燈

    干擾波形見圖8。特點(diǎn):在橢圓時(shí)基上出現(xiàn)欄柵狀幅值大致相等的脈沖,并伴有正負(fù)半波時(shí)對(duì)稱出現(xiàn)的二簇脈沖組。

    (9)電動(dòng)機(jī)

    干擾波形見圖9。特點(diǎn):沿橢圓時(shí)基均布,等幅值每一個(gè)單個(gè)訊號(hào)或“山”字形。

    起因:帶換向器的電動(dòng)機(jī)如風(fēng)扇、電吹風(fēng)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)所發(fā)出的干擾訊號(hào)。

    (10)無線電干擾

    干擾波形見圖10,特點(diǎn):沿整個(gè)時(shí)基橢圓分布的幅值有調(diào)制的高頻正弦波。

    起因:高頻電力放大器,無線、廣播話筒等。

    (11)中高頻工業(yè)設(shè)備

    干擾波形見圖11。特點(diǎn):訊號(hào)在時(shí)基橢圓上連續(xù)發(fā)生,但僅在半周內(nèi)出現(xiàn)。

    起因:感應(yīng)加熱裝置及頻率接近局部放電檢測(cè)頻率的超聲波發(fā)生器等。

    (12)磁飽和產(chǎn)生的諧波

    干擾波形見圖12。特點(diǎn):在時(shí)基橢圓正負(fù)半波上對(duì)稱出現(xiàn)一對(duì)諧波振蕩訊號(hào),訊號(hào)幅值隨電壓增加而增加,電壓除去,訊號(hào)消失。訊號(hào)穩(wěn)定,能重復(fù)再現(xiàn)。

    起因:試驗(yàn)系統(tǒng)中鐵芯設(shè)備(試驗(yàn)變壓器,并聯(lián)或串聯(lián)電抗器,濾波電抗器,匹配變壓器,調(diào)壓變壓器)磁飽和時(shí)產(chǎn)生的諧振訊號(hào)。

    (13)電極在電場(chǎng)方向運(yùn)動(dòng)

    干擾波形見圖13。特點(diǎn):僅在時(shí)基橢圓的半周中出現(xiàn)二個(gè)訊號(hào)脈沖,它們相對(duì)于峰值點(diǎn)對(duì)稱分布。起始點(diǎn)該二訊號(hào)很靠近,隨電壓增大,二者逐漸分開,且有可能產(chǎn)生新的訊號(hào)脈沖對(duì)。

    起因:電極(尤其是金屬箔電極)在電場(chǎng)作用下運(yùn)動(dòng)。

    (14)介質(zhì)表面放電

    干擾訊號(hào)波形見圖14。特點(diǎn):放電訊號(hào)出現(xiàn)在試驗(yàn)電壓峰值之前。正負(fù)半周中都有,而且幅值基本相等。訊號(hào)幅值和位置有隨機(jī)性變化。開始時(shí),放電訊號(hào)是可分辨 的,到一定電壓值后便難以分辨。

    起因:二個(gè)接觸的絕緣導(dǎo)體之間介質(zhì)表面上的,或介質(zhì)表面上切向場(chǎng)強(qiáng)較高的區(qū)域發(fā)生放電。

    (15)漏電痕跡和樹枝

    波形特點(diǎn):訊號(hào)與一般典型的圖像不符合,波形呈不規(guī)則,不確定的圖像,與電壓有關(guān)。

    起因:臟污絕緣中泄漏,絕緣局部過熱致的碳痕跡或電樹枝足道等。

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