局部放電檢測儀制造廠家 變壓器測試儀 返回列表頁

名詞術語：

局部放電檢測儀制造廠家！

1． 局部放電

局部放電是指在絕緣的局部位置放電，它并不構成整個絕緣的貫通性擊穿。它包含三種放電形式：內部放電（在介質內部）、沿面放電（在介質表面）、電暈放電（在電極*）。

2． 電荷量q

在試品兩端瞬時注入一定電荷量，使試品端電壓的變化和由局部放電本身引起的端電壓的變化相同，此注入量即為局部放電的視在電荷量。

3． 視在放電量校準器

視在放電量校準器是一標準電量發生器，試驗前它以輸出某固定電量加之試品兩端，模擬該試品在此電量下放電時局部放電測試儀的響應，此時調整刻度系數，確定局部放電檢測儀的量程，以便在試驗時測量該試品在額定電壓下的視在放電量。因該放電量時以標準電量發生器比較后間接測出，而非直接測出，故此放電量稱為“視在放電量”。

校正電量發生器是測量局部放電時*的儀器，它的性能參數直接關系到測試結果的準確性。

視在放電量校準器由校準脈沖電壓發生器和校準電容串聯組成，其參數主要包括：脈沖波形上升時間、衰減時間、內阻、脈沖峰值、校準電容值等。

校準脈沖電壓發生器電壓波形上升時間為從0.1U0到0.9U0的時間，衰減時間定義為從峰值下降到0.1U0的時間。

4．檢測阻抗

檢測阻抗是拾取檢測信號的裝置，在使用中，應根據不同的測試目的，被試品的種類來選擇合適的檢測阻抗，以提高局部放電測量的靈敏度、分辨能力、波形特性及信噪比。

檢測阻抗按調諧電容范圍分1～12號。（見表1）

5．時間窗(門單元)

時間窗是為防止大于局部放電的干擾信號進入峰值檢波電路而設計的一種電路裝置。因在實際試驗時，尤其是在現場做試驗時，不可避免地會引入一些干擾，所以，時間窗的使用更顯得重要。

時間窗的工作原理是把橢圓掃描時基分成導通(加亮區域)和截止(未加亮區域)兩部分,通過改變時間窗的位置和寬度將放電脈沖置于導通(加亮區域)，干擾脈沖置于截止(未加亮區域)，此時儀表讀數即為放電脈沖數值，而干擾則不論大小，皆不會影響放電脈沖數值。若此時兩個時間窗同時關閉，則儀表讀數為整個橢圓上脈沖之峰值。

技術參數：

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1．可測試品的電容范圍：6ｐF~250ｕF

2．檢測靈敏度及允許電流(見表1)。

3．橢圓掃描時基

(1) 頻率：50、100、150、200、400Ｈz

(2) 旋轉：以30度為一檔，可旋轉120度。

(3) 工作方式：標準－擴展－直線。

(4) 高頻時基橢圓的輸入電壓范圍：13~275Ｖ。

4．顯示單元

采用100×80mm矩形示波管，有亮度與聚焦調節旋鈕。

5．放大器

(1) 3dB低頻端頻fL：20、40KHz任選。

(2) 3dB高頻端頻率fH：200、300KHz任選。

(3) 增益調節：粗調6檔，檔間增益差10倍±5%。

(4) 細調范圍：＞10倍。

(5) 正、負脈沖響應不對稱性：＜5%。

6．時間窗

(1) 窗寬：5度~150度(50Hz) 連續可調。

(2) 窗位置：每一窗可旋轉0度~170度。

(3) 兩個時間窗可分別或同時控制。

脈沖峰值表

(1) 線性指示：0~10*不大于5%。

對數指示：1~10*不大于5%。

表1  檢測靈敏度及輸入單元允許電流值

輸入單元序號

調電容范圍

靈敏度(PC)

(不平衡電路)

允許電流有效值

不平衡電路

平衡電路

原理簡介：

若試品Ｃa在試驗電壓下產生局部放電時，經耦合電容Cｋ產生脈沖電流，由輸入單元拾取得脈沖訊號，經低噪聲前置放大、濾波放大器選擇所需頻帶及主放放大后，在示波屏的橢圓掃描基線上顯示出放電脈沖，同時也送到脈沖峰值表（對數表）顯示其峰值。時間窗單元控制試驗電壓每一周期內脈沖峰值表的工作時間，并在這段時間內將顯示屏的顯示加亮，寬度與位置可以改變，進一步加強了抗*力。

試驗方法：

(一)試驗目的

(1) 證實試品在規定電壓下沒有高于規定值之局部放電；

(2) 測定電壓上升時出現放電超過某一規定值時的zui低電壓(起始放電電壓)和電壓下降時放電低于規定值時zui高電壓(終止放電電壓)。

(3) 測定在某一規定電壓下的放電強度。

(二)試驗條件

(1) 交流電源電壓應為正弦波，不應有過大的高次諧波。

(2) 試品的電氣、機械、溫度條件應良好且穩定。

(3) 由于電壓回滯現象的影響，在試驗前至少幾小時以上的時間內，不要承受超過規定的局部放電試驗電壓zui高值以上的電壓。

(4) 經過搬運后的試品，必須靜放一段時間后再局部放電試驗(油浸)。

(三)試驗程序

1. 將試驗區內的雜物盡量移到試區以外，各種金屬物體應牢固接地，檢查和改善試區內一切可能放電的部位，應特別注意各種地線是否已接地。

2. 根據不同的試品和試驗條件，選擇正確的接線方式。

3.  用視在放電量校準器（Q視）對整個測試系統進行刻度系數K校正。如圖1將視在放電量校準器接入線路中，調節儀器的增益旋鈕，把指針調至參考值H，則刻度系數K＝H/Q視（詳見具體操作說明5）　。校正完畢后，測試儀器的細調（連續調節）增益旋鈕不得隨意變動，同時應將視在放電量校準器從高壓線路上取下，以免在加壓試驗時將視在放電量校準器擊穿而使高壓線路短路。

注意事項：

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1. 在試驗開始加壓以前，試驗人員必須詳細而全面地檢查一遍線路，以免線路接錯。測試儀器處的接地線是否與接地體牢固連接，若連接不牢或在準備工作時掐頭去尾線被腳踢斷，這將可能引起人身和設備事故。

2．對于連接線應避免將*暴露在外，防止*電暈放電，尤其對于電壓等級較高的局部放電試驗，必要時要加粗高壓連接線及加裝防電暈罩，減小因場強過高引起的電暈放電。屏蔽罩不能與試品的瓷裙相接觸。

3. 一般情況下，在試驗過程中，被試品在耐壓、預升壓時局部放電量都比正常值大很多，此時儀器的儀表必然會超出滿刻度。為防止儀器損壞，應將儀器的增益粗調旋鈕逆時針旋轉一檔或更多檔，以不超出滿刻度為標準。當電壓降至測量電壓時，再將增益粗調開關順時針旋轉一檔或更多檔，以便記錄測量值。

4. 校正電量發生器校正完畢后，一定要從高壓端脫離，并關閉電源開關，且儀器的增益細調旋鈕不可再調。因增益粗調開關每相鄰兩檔之間的關系是十倍，且檔位有指示，故升壓后根據放電量大小，可選擇合適量程。逆時針旋轉時，每降一檔量程擴大十倍；反之，順時針時，量程縮小十倍。

5. 試驗完畢后，應對整個測試系統再進行一次復查校正，驗證是否與試驗前所校正出的刻度系數相等，以免測試儀器或其它環節在試驗過程中發生故障而使測試結果不對。

操作說明：

（一）試驗準備

120×1000

120+1000

1． 根據試品的容量Ca，耦合電容的大小Ck，選取適合序號的輸入單元。表1中調諧電容量系指與輸入單元初級繞組并聯的電容（粗略估算以按試品容量與耦合電容的容量串聯計算）。例如：試品容量為120ｐF，耦合電容量為1000ｐF，則所需檢測阻抗為有          ≈107，查表1可取2號單元。

輸入單元應盡量靠近試品，輸入單元經8米長的測量電纜與放大器輸入插座相連。

成套裝置：

1. 輸入阻抗

1~12號任選，7R號測長電纜用。

2. 視在放電量器校準器（JZF－10校正電量發生器，局放儀校正脈沖發生器）任選。

3. LB系列工頻、中頻濾波器

4. SBP系列三倍頻感應試驗設備

5. 無局放電阻分壓器50KV、100KV、150KV、200KV任選。

6. 無局放耦合電容系列

7. YDTW無局放試驗變壓器系列

8. 工頻試驗控制臺