《宇航用石英撓性加速度計(jì)伺服電路通用測試方法》征求意見

　　【儀表網(wǎng) 行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)】近日，由 TC425(全國宇航技術(shù)及其應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會)歸口，西安微電子技術(shù)研究所等單位起草的國家標(biāo)準(zhǔn)計(jì)劃《宇航用石英撓性加速度計(jì)伺服電路通用測試方法》已完成征求意見稿編制，現(xiàn)公開征求意見。
 

　　石英撓性加速度計(jì)是慣性系統(tǒng)的重要組件，廣泛的應(yīng)用于航空、航天、船舶等領(lǐng)域。石英撓性加速度計(jì)伺服電路是石英撓性加速度計(jì)的重要組成部分，其性能和可靠性直接影響慣性系統(tǒng)的品質(zhì)，因此如何正確規(guī)范測試石英撓性加速度計(jì)伺服電路的性能指標(biāo)是其研制生產(chǎn)的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。國內(nèi)尚無石英撓性加速度計(jì)伺服電路測試方法的標(biāo)準(zhǔn)。
 

　　航天七七一所作為微電子技術(shù)的專業(yè)研究所，于上世紀(jì) 80 年代開始進(jìn)行石英撓性加速度計(jì)伺服電路的研制和生產(chǎn)，累計(jì)生產(chǎn)該類電路上百萬只，配套數(shù)十個型號，在該類電路的生產(chǎn)測試方面累積了豐厚的經(jīng)驗(yàn)，同時在各型加速度計(jì)伺服電路的測試中遇到了很多規(guī)范性問題，為此，航天七七一所經(jīng)過對各型速度計(jì)伺服電路產(chǎn)品測試方法進(jìn)行總結(jié)，形成了國標(biāo)《宇航用石英撓性加速度計(jì)伺服電路測試方法》。
 

　　本文件按照GB/T 1.1-2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則 第1部分：標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定起草。
 

　　本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了石英撓性加速度計(jì)伺服電路(以下稱為器件)參數(shù)測試方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于石英撓性加速度計(jì)伺服電路參數(shù)的測試，其它加速度計(jì)伺服電路可參考本文件。
 

　　測試設(shè)備：
 

　　測試所使用的儀器和設(shè)備包括直流電源、數(shù)字萬用表、示波器、信號源、加速度傳感器等，應(yīng)滿足下列要求：
 

　　a) 測試儀器應(yīng)經(jīng)過計(jì)量校準(zhǔn)并在檢定有效期內(nèi)，準(zhǔn)確度應(yīng)滿足測試要求；
 

　　b) 測試儀器的頻率范圍和量程應(yīng)滿足測試要求；
 

　　c) 測試儀器應(yīng)按儀器要求預(yù)熱；
 

　　d) 測試時儀器、設(shè)備應(yīng)良好接地，并做好相關(guān)靜電防護(hù)，測試工作臺的防靜電應(yīng)符合 GB 50611-2010《電子工程防靜電設(shè)計(jì)規(guī)范》；
 

　　e) 石英撓性加速度計(jì)伺服電路測試需連接相應(yīng)加速度傳感器。
 

　　測試環(huán)境：
 

　　除另有規(guī)定外，測試環(huán)境條件如下：環(huán)境溫度：-55℃、25℃、125℃。如果環(huán)境氣壓、濕度對試驗(yàn)有影響，應(yīng)在相關(guān)文件中規(guī)定。
 

　　測試人員：
 

　　測試人員一般應(yīng)滿足以下要求：a) 測試操作人員應(yīng)經(jīng)過上崗培訓(xùn)，熟練掌握各相關(guān)測試儀器、設(shè)備的使用方法，清楚各種測試項(xiàng)目及數(shù)據(jù)判讀準(zhǔn)則；b) 測試人員在測試前應(yīng)做好準(zhǔn)備工作：穿著防靜電服和防靜電鞋、帽，佩戴防靜電手套和防靜電腕帶，并使防靜電腕帶的插頭與工作臺上的防靜電腕帶插座接觸可靠。
 

　　注意事項(xiàng)：
 

　　a) 對輻照前后的器件進(jìn)行電參數(shù)測試(測試項(xiàng)目可按相關(guān)規(guī)定執(zhí)行)；
 

　　b) 輻照前、后的電參數(shù)測試應(yīng)在同一測試系統(tǒng)上進(jìn)行，且測試項(xiàng)目的順序和測試條件應(yīng)保持不變。電參數(shù)測試建議采用移位測試，將被試器件從輻照源移至異地測試以及返回原位再作輻照的過程中，環(huán)境溫度不得比輻照時的環(huán)境溫度高 10℃；
 

　　c) 輻照完畢到電參數(shù)開始測試的時間間隔不得超過 1h；輻照后被試器件置于干冰環(huán)境(溫度不高于-60℃)保存，要求被試器件各端口短接，時間不可超過 72h，要求被試器件從干冰保存環(huán)境恢復(fù)到室溫測試的時間不超過 30min；從前一次輻照后到后一次輻照開始之間的時間間隔不應(yīng)超過2h。
 

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