4項新材料與納米領域國家計量技術規范發布實施

 

　　隨著微納科技與微納產業的快速發展，各類電子和光學顯微鏡在微納技術領域的保有量迅速增加。光柵間距樣板作為傳遞標準廣泛應用于掃描電子顯微鏡、掃描探針顯微鏡以及光學顯微鏡的放大倍率的校準，是各類顯微鏡測量準確性的保證。因此，作為傳遞標準的光柵間距樣板的量值必須以較小的不確定度溯源至SI單位。反射光柵間距的激光衍射測量技術是一種非成像的間接測量微納間距的技術，具有儀器設備結構簡單、測量面積大、測量速度快、平均間距測量準確度高等優點，加之測量成本低，在微納制造產業的在線、高速測量方面有巨大的應用潛力。《激光衍射法反射光柵校準規范》的發布與實施為用激光衍射法測量光柵間距提供了全面的、科學的、規范的法制依據和技術指導，為支持微納產業等相關技術領域發展也奠定技術基礎。
 

　　集成電路產業作為智能制造的主要領域，是引領新一輪科技革命和產業變革的關鍵力量。在集成電路生產制造過程中，集成電路板上錫膏的印刷質量將直接影響芯片和電子元器件焊接的質量，進而影響最終產品的性能。錫膏厚度測量儀是一種被廣泛用于檢測錫膏印刷質量的儀器。它采用非接觸式的光學測量原理，能快速、無損地測量錫膏厚度、面積、體積等關鍵參數，對于判斷錫膏印刷質量起到極其重要的作用。此前，由于缺乏相關的計量技術規范，錫膏厚度測量儀的可靠性和準確性只能依靠儀器生產廠家提供的維護服務，儀器量值無法得到有效溯源，因此急需制定統一的校準規范文件。在對國內外主要錫膏厚度測量儀產品和國內用戶實際使用情況進行廣泛調研的基礎上，通過深入研究儀器技術指標、校準方法以及計量標準器等關鍵技術問題，起草制定了《錫膏厚度測量儀校準規范》。本規范的發布和實施，將填補國內錫膏厚度測量儀校準技術依據的空白，有利于實現錫膏厚度測量儀校準方法的統一和測量結果的溯源，保證集成電路板錫膏厚度量值的準確、一致和可靠。推動國內集成電路相關生產企業提升產品質量和技術能力，促進相關行業技術標準的統一，助力制造強國戰略的實施。
 

　　反射率是衡量微波低散射材料性能的重要指標，可以直觀地表達出材料對雷達信號的反射性能。通過反射率性能的考察，能實現材料的配比組成與結構參數的進一步優化。《雷達散射截面法材料反射率測試系統校準規范》的發布與實施，使雷達散射截面法材料反射率測試系統對于材料反射率的測試準確性有了溯源依據，對于保證微波低散射材料研制過程中的質量可靠性有重要意義。
 

　　煤炭作為我國第一能源，年消耗量將約40億噸。氯和氟是煤中的有害元素，煤炭燃燒時，氯的危害主要表現在對鍋爐設備及管道的腐蝕和玷污堵塞。燃燒后，氟化物發生分解，以HF、SiF4等氣態污染物形式排入大氣，造成大氣氟污染和對生態環境的破壞，對人體、動植物健康帶來嚴重危害，給農牧業造成經濟損失。國家頒發《商品煤質量管理辦法》《商品煤質量評價與控制技術指南》等文件對煤中氟氯等有害元素限值做出明確規定，煤炭氯元素含量應不超過0.3%，氟元素含量應不超過200μg/g。《煤中氟/氯測定儀校準規范》的發布與實施為煤中氟氯測定儀提供了詳細的校準方法、解決儀器量值溯源難題。該技術規范有利于指導煤中氟氯測定儀的生產，提升儀器品質、統一儀器計量性能的評價。為煤炭能源清潔利用提供技術支撐，為“藍天白云”環保事業貢獻計量力量。