電子探針顯微分析儀在鋼鐵、汽車、電子零件和電池材料等各種工業領域，作為研究開發和的分析工具被廣泛使用，其用途越來越廣。此外，在學術領域 ，地球空間科學、材料科學領域也在廣泛使用，礦物等資源能源研究、各種新型材料研究等，期待在各種各樣前沿研究中做出貢獻。與此相應，在保持高局部微量元素分析性能的同時，追求每個人都能簡單快速地使用好儀器。JXA-iHP200F能更加有效地進行觀察分析操作，是更的一體化集成場發射EPMA。
* EPMA是Electron Probe Microanalyzer簡稱
◇ [Setting]
自動定位，準確安裝樣品臺！迅速找到想觀察的點！
進樣和獲取樣品臺導航像一鍵完成。從導航像能夠指定分析區域。
◇ [Analysis]
充分的自動功能，誰都可以拍到高級的SEM像
繁瑣的設定也能對應，EPMA立馬進行元素分析
光學顯微鏡的自動聚焦功能與配備高精度/高速化新系統的SEM自動功能相結合，任誰都可以拍到高級的SEM像。
【live Analysis】
通過【live Analysis】能夠在觀察中進行篩選分析。初學者也能操作的【簡單的EPMA】。
用【EPMA-XRF integration】在XRF數據的基礎上能夠進行EPMA的條件設定。用【WD/ED integration】能夠縮短分析時間。SEM、EDS、XRF、WDS、光學像的集成一體化提高了儀器的操作性能。JXA-iHP200F用圖片3.jpg
通過WD/ED integration，分析時間縮短的例子
integration：用這些儀器推定的元素在一體化EPMA上可以一鍵設定分光晶體的組合
◇ [Self Maintenance]
內置18種類校正樣品，有效進行校正
配置【分光器校正功能】減輕了定期進行分光器校正的作業而且也避免了校正樣品設定時的人為失誤；利用夜間對儀器進行校正，提高了工作效率。
按照【維護通知功能】，在必要時期對儀器進行自我維護，保持設備狀態。
維護通知功能【客戶支持工具】
◇ 標配場發射電子槍
能夠在高倍率下獲得高空間分辨率的SEM像和分析結果。在大電流下保持長時間穩定的熱電子槍在短時間內分析微量元素的時候、整夜運行分析大量樣品的時候顯示出它的威力。
| 檢測元素范圍 | WDS: Be＊1 / B to U, EDS: Be to U |
| 檢測X-ray 范圍 | 波長范圍WDS: 0.087 to 9.3 nm 能量范圍EDS: 20 keV |
| 譜儀數 | WDS: 最多5個可選, EDS: 1個 |
| 樣品尺寸 | 100 mm × 100 mm × 50 mm (H) |
| 加速電壓 | 1 to 30 kV (0.1 kV steps) |
| 探針電流范圍 | 1 pA to 3 μA |
| 探針電流穩定性 | ± 0.3％ / h, ± 1.0％ /12 h＊2 |
| 二次電子像分辨率（觀察模式） | 2.5 nm |
| 二次電子像分辨率（分析模式下） | 20 nm（ 10 kV, 10 nA） 50 nm（ 10 kV, 100 nA） |
| 掃描放大倍率 | ×40 to 300,000 (W.D. 11 mm) |
| 掃描圖像分辨率 | Maxium 5,120 × 3,840 |
