DSPEC Pro的多功能性（如眾多的功能和操作模式）意味著它是各種應(yīng)用的理想解決方案。其整潔緊湊的封裝設(shè)計(jì)進(jìn)一步增強(qiáng)了其適用性。
數(shù)字譜儀本身比模擬型號(hào)更加穩(wěn)定，ORTEC自從推出最初的DSPEC以來，由于儀器具有與溫度和計(jì)數(shù)率相關(guān)的穩(wěn)定性，從而獲得了良好的聲譽(yù)。
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DSPEC PRO宣傳冊(cè)
- DSPEC PRO宣傳冊(cè)（A4）
- DSPEC Pro手冊(cè)
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適用于高速率的譜應(yīng)用
“無損失”或“零死時(shí)間”（ZDT）
用來計(jì)算高速率下計(jì)數(shù)損失的常用方法是延長(zhǎng)采集時(shí)間?；炯僭O(shè)必須是樣品在延長(zhǎng)期內(nèi)不會(huì)發(fā)生變化。但當(dāng)遇到短半衰期或樣品非靜止（例如，流過管道）時(shí)，該假設(shè)并不成立。ORTEC已經(jīng)完善了數(shù)字領(lǐng)域的無損計(jì)數(shù)技術(shù)。在該方法中，譜本身按脈沖逐個(gè)進(jìn)行校正，ZDT方法還提供精確校正的譜和正確計(jì)算的統(tǒng)計(jì)不確定性。“增加處理量”模式
高輸入計(jì)數(shù)率下的精度可能受譜儀將數(shù)據(jù)存儲(chǔ)到內(nèi)存的速度限制。這就是所謂的“處理量限制”。脈沖堆積意味著超過某一點(diǎn)，存儲(chǔ)到內(nèi)存的數(shù)據(jù)速率隨著輸入計(jì)數(shù)率的進(jìn)一步增加而降低，從而降低了結(jié)果質(zhì)量。ORTEC通過開發(fā)一種新型數(shù)字峰值檢測(cè)算法，消除了與脈沖峰值幅度確定過程相關(guān)的一些死區(qū)時(shí)間，從而將處理量提高了30％。適用于運(yùn)動(dòng)中的樣品
列表模式
對(duì)于樣品相對(duì)于輻射探測(cè)器移動(dòng)的情況，通常需要測(cè)量作為時(shí)間函數(shù)的活度曲線。此類應(yīng)用的例子包括空中和陸上測(cè)量以及出入口監(jiān)控。通常要求不出現(xiàn)與“采集 - 存儲(chǔ) - 清除 - 重啟”循環(huán)相關(guān)聯(lián)的“死區(qū)”。在列表操作模式中，數(shù)據(jù)按事件逐個(gè)直接流式傳輸?shù)接?jì)算機(jī)。沒有相關(guān)的“死區(qū)”。在DSPEC Pro中，每個(gè)事件的時(shí)間戳都精確到200納秒。通過使用程序員工具包，可以將數(shù)據(jù)重新制作成譜，以便通過ORTEC的各種分析軟件產(chǎn)品或用戶開發(fā)的代碼進(jìn)行離線分析。適用于惡劣環(huán)境和機(jī)械冷卻器
低頻噪聲抑制器（LFR）
HPGe輻射探測(cè)器在存在機(jī)械振動(dòng)環(huán)境中的性能并不十分理想。顫噪噪聲通過向主信號(hào)添加低頻周期性電噪聲而降低了能量分辨率。電接地回路也是低頻電噪聲的來源。越來越多的HPGe探測(cè)器為消除對(duì)LN2的需求而使用機(jī)械冷卻器，以及越來越多的HPGe探測(cè)器被帶出實(shí)驗(yàn)室環(huán)境。DSPEC Pro具有低頻噪聲抑制器（LFR）功能，可降低此類噪聲源的影響。再結(jié)合高性能列表模式，DSPEC Pro是移動(dòng)車輛測(cè)量系統(tǒng)的儀器。
用于提高大型或中子損傷探測(cè)器的分辨率
彈道虧損和電荷捕獲校正
DSPEC Pro中的梯形數(shù)字濾波器與所有其他ORTEC DSPEC系列產(chǎn)品相同。它可調(diào)整濾波器以優(yōu)化大型HPGe輻射探測(cè)器的分辨率性能，當(dāng)存在彈道虧損時(shí)，這些探測(cè)器通常會(huì)出現(xiàn)低能拖尾現(xiàn)象。這些大型探測(cè)器越來越多地被用于低水平計(jì)數(shù)應(yīng)用。調(diào)整主要通過使用“優(yōu)化”功能自動(dòng)進(jìn)行，還可通過InSIGHT數(shù)字示波器模式進(jìn)行監(jiān)控。
DSPEC Pro以電荷捕獲校正器的形式提供更多功能，電荷捕獲校正器可用于減輕中子損傷輻射探測(cè)器的峰值衰減。中子對(duì)晶格的損傷會(huì)產(chǎn)生“捕獲”中心，該中心可“保留”由伽馬射線相互作用產(chǎn)生的一些電荷。這將導(dǎo)致低側(cè)拖尾類似于彈道虧損，盡管原因有所不同。電荷捕獲校正器進(jìn)行校準(zhǔn)或“訓(xùn)練”，使得它可按事件逐個(gè)加回脈沖高度虧損。
規(guī)格 +
顯示
240 x 160像素背光LCD提供狀態(tài)信息、儀器ID、偏壓信息、活時(shí)間和實(shí)時(shí)間。
并發(fā)連接數(shù)
受計(jì)算機(jī)和支持USB集線器的限制。每臺(tái)計(jì)算機(jī)上的ORTEC CONNECTIONS軟件最多支持127個(gè)通過USB連接的設(shè)備。
系統(tǒng)增益設(shè)置
• 粗調(diào)增益：1、2、4、8、16或32。
•微調(diào)增益：0.45到1。
•可用的增益設(shè)置范圍支持所有類型的HPGe探測(cè)器。具體而言，使用標(biāo)準(zhǔn)ORTEC前置放大器（增益到最小增益）可實(shí)現(xiàn)以下能量值：COAX
187 keV至12 MeV
LO-AX
94 keV至6 MeV
GLP/SLP
16.5 keV至1 MeV
IGLET-X
8 keV至500 keV
前置放大器
計(jì)算機(jī)可選擇作為電阻或TRP前置放大器。
系統(tǒng)轉(zhuǎn)換增益
系統(tǒng)轉(zhuǎn)換增益可由軟件在512到16k通道之間進(jìn)行控制。
數(shù)字濾波器整形時(shí)間常數(shù)
•上升時(shí)間：0.8 μs至23 μs，步長(zhǎng)為0.2 μs。
• 平頂：0.3至2.4，步長(zhǎng)為0.1 μs。死時(shí)間校正
根據(jù)Gedcke-Hale方法進(jìn)行擴(kuò)展的活時(shí)間校正。
精度
參考區(qū)域峰值在每秒0到50,000的計(jì)數(shù)范圍內(nèi)變化<±3%。
低頻抑制器
設(shè)置為ON時(shí)，將消除譜中的低頻（<3 kHz）輸入噪聲。
線性
•積分非線性：用混合源（55Fe @ 5.9keV至88Y @ 1836keV）測(cè)量，在譜的前99.5％<±0.025％。
•微分非線性：在范圍的前99％<±1％（使用BNC脈沖發(fā)生器和斜坡發(fā)生器測(cè)量）。
•數(shù)字穩(wěn)譜器：通過計(jì)算機(jī)控制，穩(wěn)定增益和。系統(tǒng)溫度系數(shù)
•增益：<50 ppm/°C。[通常<30 ppm/°C。]
•偏移：<滿量程的3 ppm/°C，上升和下降時(shí)間為12 μs，平頂為1 μs。（類似于模擬6 μs整形。）系統(tǒng)處理量
LFR關(guān)閉時(shí)>100,000 cps。LFR開啟時(shí)>34,000 cps。取決于整形參數(shù)。
脈沖堆積判棄器
自動(dòng)設(shè)置閾值。
脈沖對(duì)分辨率
通常<500 ns。
自動(dòng)極零調(diào)整
由計(jì)算機(jī)控制?？梢宰詣?dòng)或手動(dòng)設(shè)置。通過InSight示波器模式進(jìn)行遠(yuǎn)程診斷。（）。
數(shù)字門控基線恢復(fù)器
由計(jì)算機(jī)控制的恢復(fù)率調(diào)整（高、低和自動(dòng)）。（）。
LLD
在通道中設(shè)置數(shù)字低電平甄別器。LLD設(shè)置以下的通道中的數(shù)據(jù)硬截?cái)唷?/span>
ULD
在通道中設(shè)置數(shù)字高電平甄別器。ULD設(shè)置以上的通道中的數(shù)據(jù)硬截?cái)唷?/span>
計(jì)數(shù)率計(jì)
MCA和/或PC屏幕上顯示計(jì)數(shù)率。
電池
內(nèi)置電池用于內(nèi)存?zhèn)浞?，可在電源中斷時(shí)保存設(shè)置。
輸入端和輸出端探測(cè)器
多針連接器（13W3），具有以下功能：
•前置放大器功率：1 W（+12 V，-12 V，+24 V，-24 V，2 GND）。
•Amp In：正常放大器輸入。
•TRP抑制。
•SMART-1或DIM的電源。
•HV和SMART-1探測(cè)器的控件（2線）。USB
用于PC通信的通用串行總線。
電源
由壁掛式直流電源供電。(+12 V dc <1.25 A)。
電氣和機(jī)械
更改樣品輸出端
后面板BNC連接器，與TTL兼容。
樣品就緒輸入端
后面板BNC連接器，接受來自樣品轉(zhuǎn)換器的TTL電平信號(hào)。軟件可選擇極性。
尺寸
8.1高 x 20.3寬 x 24.9深厘米（3.2高 x 8寬 x 9.8深英寸）
重量
1.0千克（2.2磅）
工作溫度范圍
0至50°C，包括LCD顯示屏。
輻射探測(cè)器高壓電源SMART-1
HV模塊與輻射探測(cè)器本身為一體式結(jié)構(gòu)。
非SMART-1
對(duì)于“傳統(tǒng)”或“非SMART-1”探測(cè)器，HV電源采用探測(cè)器接口模塊或帶2米電纜的“DIM”形式。DIM有一個(gè)用于傳統(tǒng)探測(cè)器電纜套件的配套連接器：9針D型前置放大器電源線、模擬輸入、關(guān)閉輸入、偏壓輸出和禁止輸入。
非SMART-1探測(cè)器的DIMS可配備以下高壓選項(xiàng)：
•DIM-POSGE：用于任何非SMART-1正偏壓HPGe探測(cè)器的探測(cè)器接口模塊。
•DIM-NEGGE：用于任何非SMART-1負(fù)偏壓HPGe探測(cè)器的探測(cè)器接口模塊。
•DIM-POSNAI：用于任何正偏壓NaI探測(cè)器的探測(cè)器接口模塊。
•DIM-296：帶有296型ScintiPack管座/前置放大器/偏壓電源的探測(cè)器接口模塊，用于帶有14針10級(jí)光電倍增管的NaI探測(cè)器。前面板顯示屏
在所有情況下，偏置電壓和關(guān)閉極性都從計(jì)算機(jī)上進(jìn)行設(shè)置。DSPEC Pro可以監(jiān)控輸出電壓和關(guān)閉狀態(tài)；探測(cè)器高壓值（只讀）；和探測(cè)器高壓狀態(tài)（開/關(guān)）（讀/寫），這些都顯示在前面板LCD上。此外，SMART-1探測(cè)器通過監(jiān)控以下功能提供額外的“健康狀態(tài)”信息：探測(cè)器溫度（只讀）；探測(cè)器過載狀態(tài)；探測(cè)器驗(yàn)證碼（讀/寫）；和探測(cè)器序列號(hào)（只讀）。
訂購(gòu)信息 +
型號(hào)
描述
DSPEC PRO
帶MAESTRO軟件、無DIM的DSPEC Pro，用于配備有SMART-1的探測(cè)器。
DSPEC PRO-POSGE
帶MAESTRO軟件和DIM-POSGE的DSPEC Pro，用于非SMART-1探測(cè)器。
DSPEC PRO-NEGGE
帶MAESTRO軟件和DIM-NEGGE的DSPEC Pro，用于非SMART-1探測(cè)器。
DSPEC PRO-POSNA
帶MAESTRO軟件和DIM-POSNAI的DSPEC Pro，用于NaI探測(cè)器。
DSPEC PRO-296
帶MAESTRO軟件和DIM-296的DSPEC Pro，用于NaI探測(cè)器。
DSPEC PRO-PKG-1
帶MAESTRO和GammaVision軟件、無DIM的DSPEC Pro，用于配備有SMART-1的探測(cè)器。
DSPEC PRO-PTK
帶MAESTRO和A11軟件、無DIM的DSPEC Pro，用于配備有SMART-1的探測(cè)器。
其他DIM
DIM-POSGE
用于任何非SMART正偏壓HPGe探測(cè)器的探測(cè)器接口模塊
DIM-NEGGE
用于任何非SMART負(fù)偏壓HPGe探測(cè)器的探測(cè)器接口模塊
DIM-POSNAI
用于任何正偏壓NaI探測(cè)器的探測(cè)器接口模塊
DIM-296
帶有296型ScintiPack管座/前置放大器/偏壓電源的探測(cè)器接口模塊，用于帶有14針10級(jí)光電倍增管的NaI探測(cè)器。
