ORTEC GWL系列高純鍺（HPGe）井型探測器是小樣品低水平計數(shù)的理想解決方案。 的離子注入探測器井具有超薄死層（僅0.3 μm厚），因此可提供的有用能量范圍（10 keV至10 MeV）。與其他穿透型鍺晶體孔的井型探測器不同，ORTEC的井型探測器有一個“盲孔”，
;在孔的底部有至少5 mm的鍺活性區(qū)（右側(cè)圖片）。<這種接近4π的幾何張角提供了的計數(shù)效率。大井（直徑1.55厘米，長4.0厘米）可容納各種樣本尺寸。與所有ORTEC的HPGe探測器一樣，HPGe井型探測器可以存儲或反復循環(huán)到室溫，而不會降低性能。 GWL系列功能：
- 接近4π幾何張角；小樣品的計數(shù)效率高。
- 譜測量從10 keV到10 MeV。
- 有效體積達400毫升。
- 的離子注入盲孔。
- 超大井（1.55 x 4.0厘米）標準。
資料 +
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GWL配置指南
- GWL配置指南（A4）
- 半導體探測器概述
- 半導體探測器的物理學綜述
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可選附件 +
遠程前置放大器選件（-HJ）
此選件讓所有前置放大器和高壓接頭位于屏蔽之外，并將前置放大器和高壓濾波器從Ge晶體的“視線”中移出。對于低本底應(yīng)用，此選件消除了可能增加屏蔽內(nèi)部本底的任何可能的前置放大器或高壓濾波器組件。低本底選件（-LB-AWT和-XLB-AWT）
低本底GWL探測器配有無氧（OFHC）銅端蓋，帶有0.02英寸壁厚的低本底高純度鋁井。訂購信息 +
請參閱GWL（井）P型同軸輻射探測器配置指南配置探測器。
