IDM-200-P預(yù)先已針對(duì)各種應(yīng)用進(jìn)行配置，是一個(gè)完整的輻射探測(cè)器和識(shí)別模塊，包含探測(cè)器、冷卻器、電源、內(nèi)部電池和充電器以及預(yù)組裝的密封連接器，可在許多OEM、客戶(hù)和集成商的應(yīng)用中實(shí)現(xiàn)快速、直接安裝。這些獨(dú)立的探測(cè)器可用于出入口監(jiān)測(cè)和其他輻射監(jiān)測(cè)應(yīng)用。資料 +
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IDM-200-P宣傳冊(cè)
- IDM-200-P宣傳冊(cè)（A4）
- IDM-200-P手冊(cè)
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IDM-200-P的優(yōu)勢(shì)
HPGe探測(cè)器的模塊化設(shè)計(jì)和出色的能量分辨率為集成商提供了顯著的優(yōu)勢(shì)。IDM-200-P將這一性能集成在、可靠和方便的封裝設(shè)計(jì)中。集成解決方案 IDM-200-P可輕松適應(yīng)其他篩查技術(shù)，如NII X射線(xiàn)、EDS和輻射出入口監(jiān)控器。
COTS IDM-200-P為商用現(xiàn)成解決方案，可降低成本，對(duì)許多應(yīng)用更加靈活，還可縮短從設(shè)計(jì)到投入市場(chǎng)的周期。
接近X光機(jī) 現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試已經(jīng)證明，散射X射線(xiàn)對(duì)IDM-200-P HPGe探測(cè)器本底的影響幾乎不會(huì)影響其識(shí)別放射性核素的能力。
探測(cè)器能量分辨率 鍺探測(cè)器在任何商用伽馬射線(xiàn)探測(cè)器中具有的分辨率。高分辨率在應(yīng)用中十分有利，可提高靈敏度，并能在所有能量下更準(zhǔn)確地識(shí)別放射性核素。
探測(cè)器的SNM靈敏度 IDM-200-P具有靈敏度，可以檢測(cè)和識(shí)別特殊核材料（SNM）。由于的信噪比，只需很少的信號(hào)就可以實(shí)現(xiàn)非常高的檢測(cè)置信度，與中低分辨率系統(tǒng)相比，該系統(tǒng)極其靈敏。
識(shí)別能力 結(jié)合ORTEC Detective系列軟件中可選的高級(jí)識(shí)別算法，IDM-200-P解決方案可以明確識(shí)別標(biāo)準(zhǔn)包裹和貨物中的威脅核素。該系統(tǒng)能夠精確地檢測(cè)和識(shí)別小伽馬射線(xiàn)峰值。高分辨率還意味著可以更容易看到其他帶有的譜，并且這些可以由的ORTEC軟件算法確認(rèn)是否存在（或不存在）特定核素。
ORTEC IDM-200-P背后的技術(shù)
ORTEC已為需要檢測(cè)和識(shí)別輻射和核威脅的關(guān)鍵安全應(yīng)用成功開(kāi)發(fā)、測(cè)試和配置產(chǎn)品。ORTEC在HPGe技術(shù)方面的開(kāi)創(chuàng)性進(jìn)展極大地?cái)U(kuò)展了現(xiàn)有HPGe的安全應(yīng)用范圍。
憑借ORTEC在制造設(shè)備方面的悠久歷史，Detective系列和IDM產(chǎn)品已成為驗(yàn)證是否存在特殊核材料（合法和非法）的標(biāo)準(zhǔn)，可以滿(mǎn)足檢測(cè)和識(shí)別特殊核材料的苛刻要求。
HPGe代表了一種的輻射傳感器技術(shù)，可以檢測(cè)、識(shí)別和分析通常被其他核探測(cè)系統(tǒng)遺漏的物質(zhì)。HPGe探測(cè)系統(tǒng)在很大程度上不受輻射背景變化、或環(huán)境溫度變化的影響。它們比其他系統(tǒng)更不容易受到電氣的干擾，與其他系統(tǒng)相比，能夠檢測(cè)到更厚的屏蔽體后的放射源。
應(yīng)用軟件
ORTEC擁有廣泛的軟件組合，專(zhuān)為滿(mǎn)足國(guó)土安全應(yīng)用的需求而設(shè)計(jì)。軟件是決定核安全測(cè)量系統(tǒng)性能的一個(gè)關(guān)鍵要素。應(yīng)用軟件通常被認(rèn)為是將“硬件轉(zhuǎn)變?yōu)榻鉀Q方案”的工具。ORTEC擁有適用于大多數(shù)核測(cè)量應(yīng)用的軟件，其單個(gè)軟件包通常具有集成的硬件控制、顯示和分析功能。Connections程序員工具包與ActiveX控件
- MAESTRO MCA仿真軟件
- Detective-Remote儀器遠(yuǎn)程監(jiān)控軟件
機(jī)械
為了支持OEM，ORTEC利用在制造Detective便攜式儀器方面的經(jīng)驗(yàn)，開(kāi)發(fā)了新的探測(cè)器模塊和集成解決方案，以滿(mǎn)足在環(huán)境中的運(yùn)行需求。IDM-200-P專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)用于HPGe出入口監(jiān)測(cè)儀和其他類(lèi)似的核材料。這些硬件子系統(tǒng)專(zhuān)為要求苛刻的應(yīng)用而設(shè)計(jì)。所有組件均源自O(shè)RTEC技術(shù)，該技術(shù)已通過(guò)現(xiàn)場(chǎng)數(shù)百臺(tái)Detective便攜式識(shí)別器得到了驗(yàn)證。
IDM-200-P是一款緊湊型探測(cè)儀器子系統(tǒng)。IDM-200-P可以方便地安裝在機(jī)柜內(nèi)的架子上。多個(gè)IDM-200-P子系統(tǒng)可以垂直堆疊放置，以用于出入口應(yīng)用。IDM-200-P足夠窄，可安裝在標(biāo)準(zhǔn)的19英寸機(jī)架中。集成手柄便于安裝和攜帶。
低功耗的IDM-200-P降低了散熱要求。當(dāng)冷卻到工作溫度時(shí)，IDM-200-P消耗的功率<100瓦。低功耗意味著使用IDM-200-P配置的系統(tǒng)不需要高級(jí)機(jī)柜空調(diào)系統(tǒng)。
HPGe探測(cè)器的屏蔽體在低溫恒溫器的背面。其他屏蔽體可以放置在探測(cè)器端蓋的側(cè)面以限制水平視場(chǎng)。垂直視場(chǎng)也可以通過(guò)屏蔽體來(lái)定義。（通過(guò)將屏蔽/準(zhǔn)直設(shè)計(jì)為獨(dú)立式，可以輕松進(jìn)行維護(hù)和更換。）
鍺探測(cè)器
特殊核材料（SNM）的大部分伽馬射線(xiàn)發(fā)射低于1 MeV。廣泛的建模表明，85毫米直徑和30毫米深的探測(cè)器尺寸是探測(cè)這些伽馬射線(xiàn)的幾何形狀。HPGe晶體的標(biāo)稱(chēng)幾何形狀在所有IDM-200-P子系統(tǒng)中相同。ORTEC在機(jī)械冷卻HPGe探測(cè)器技術(shù)的開(kāi)發(fā)和應(yīng)用方面處于地位，在20多年前推出了機(jī)械冷卻的HPGe探測(cè)器。在世界范圍內(nèi)有許多HPGe譜儀由ORTEC提供的機(jī)械冷卻系統(tǒng)冷卻，它們?cè)跀?shù)量上比所有其他商業(yè)和非商業(yè)系統(tǒng)加起來(lái)的總和還要多。特別是，在最近，數(shù)以百計(jì)的ORTEC Detective HPGe便攜式手持識(shí)別器被用于現(xiàn)場(chǎng)，由Detective和IDM-200-P采用的斯特林循環(huán)制冷器技術(shù)得到了實(shí)踐的證明。
IDM-200-P低溫恒溫器的設(shè)計(jì)源自Detective手持式識(shí)別器，它本身是一種非傳統(tǒng)設(shè)計(jì)，未使用分子篩作為低溫泵，與之相反的是，它采用了一種全金屬密封和非常干凈的構(gòu)造方式。全金屬結(jié)構(gòu)使低溫恒溫器堅(jiān)固耐用、使用壽命長(zhǎng)，可以無(wú)限期地進(jìn)行整體或局部回溫循環(huán)。冷卻器可以隨時(shí)關(guān)閉然后再打開(kāi)，便于進(jìn)行維修操作。
DSP電子設(shè)備
IDM-200-P中使用的數(shù)字信號(hào)處理（DSP）電子子系統(tǒng)源自O(shè)RTEC Detective系列系統(tǒng)。低功耗設(shè)計(jì)對(duì)計(jì)數(shù)率和溫度變化有的穩(wěn)定性，這在許多應(yīng)用中非常有用。所有儀器的現(xiàn)場(chǎng)操作都不同于實(shí)驗(yàn)室操作。機(jī)械振動(dòng)或聲學(xué)噪聲都可導(dǎo)致現(xiàn)場(chǎng)操作系統(tǒng)的性能降低。HPGe探測(cè)器的高能量分辨率可能會(huì)因機(jī)械振動(dòng)或顫噪噪聲而降低。ORTEC的LFR1技術(shù)解決了航測(cè)和出入口監(jiān)測(cè)系統(tǒng)中常見(jiàn)的振動(dòng)問(wèn)題。低頻電噪聲的另一個(gè)來(lái)源是電接地回路 - 在現(xiàn)場(chǎng)系統(tǒng)中很常見(jiàn)。LFR濾波器功能可降低所有此類(lèi)噪聲源的影響。
數(shù)據(jù)可以以直方圖模式（脈沖高度分析的傳統(tǒng)模式）收集，然后傳送到PC以進(jìn)行進(jìn)一步分析。傳輸數(shù)據(jù)時(shí)未收集新數(shù)據(jù)的死時(shí)間很短。在不能遺漏數(shù)據(jù)的情況下，可以使用列表模式數(shù)據(jù)收集。列表模式已經(jīng)在許多實(shí)際情況中取得了巨大成功。例如，當(dāng)樣品相對(duì)于探測(cè)器移動(dòng)時(shí)，需要測(cè)量作為時(shí)間或位置函數(shù)的活度曲線(xiàn)。另一個(gè)應(yīng)用是空中和陸上測(cè)量。數(shù)據(jù)收集中不會(huì)出現(xiàn)“死時(shí)段”。當(dāng)以50公里/小時(shí)的速度移動(dòng)時(shí)，數(shù)據(jù)收集中的100毫秒間隔意味著數(shù)據(jù)收集曲線(xiàn)中接近1.5米的間隔。在列表操作模式中，數(shù)據(jù)按事件直接存儲(chǔ)到內(nèi)存中，帶有時(shí)間戳（200納秒）。然后，可以通過(guò)出入口內(nèi)的時(shí)間、能量或位置將這些豐富的數(shù)據(jù)重建為單獨(dú)的譜。IDM-200-P的這一特性極大地增強(qiáng)了系統(tǒng)在所有應(yīng)用中的檢測(cè)靈敏度。
通訊
即插即用的高速USB 2.0通信使子系統(tǒng)控制和數(shù)據(jù)采集變得快速又簡(jiǎn)單。服務(wù)
可快速和直接更換IDM-200-P。只需要兩個(gè)接口，電源（A/C或DC）和USB。規(guī)格 +
輻射探測(cè)器
內(nèi)部HPGe探測(cè)器晶體
尺寸：標(biāo)稱(chēng)85毫米直徑 x 30毫米長(zhǎng)。同軸結(jié)構(gòu)。P型高純鍺。
低溫恒溫器
全金屬密封、長(zhǎng)壽命低溫恒溫器、無(wú)分子篩。
冷卻器
高可靠性、低功耗的斯特林制冷器。制冷器的設(shè)計(jì)壽命> 5年連續(xù)運(yùn)行。工作溫度下的功耗<2 A。
數(shù)字噪聲抑制
“LFR濾波器”ORTEC申請(qǐng)中。
數(shù)字MCA和數(shù)據(jù)處理器
數(shù)字MCA轉(zhuǎn)換增益
高達(dá)16k通道。
系統(tǒng)增益設(shè)置
粗調(diào)增益：1.
微調(diào)增益：0.45到1。系統(tǒng)轉(zhuǎn)換增益
從512到16k道的軟件控制。
數(shù)字濾波器整形時(shí)間常數(shù)
上升時(shí)間：3.2 μs至23 μs，步長(zhǎng)為0.2 μs。
平頂：0.3至2.4，步長(zhǎng)為0.1 μs。
死時(shí)間校正：根據(jù)Gedcke-Hale方法進(jìn)行擴(kuò)展的活時(shí)間校正。
精度：參考區(qū)域峰值在每秒0到50,000的計(jì)數(shù)范圍內(nèi)變化<±3%。低頻噪聲抑制器
設(shè)置為ON時(shí)，將消除譜中的低頻（<3 kHz）輸入噪聲。
線(xiàn)性
積分非線(xiàn)性：用混合源（55Fe @ 5.9keV至88Y @ 1836keV）測(cè)量，在譜的前99.5％<±0.025％。
微分非線(xiàn)性：在范圍的前99％<±1％（使用BNC脈沖發(fā)生器和斜坡發(fā)生器測(cè)量）。數(shù)字譜穩(wěn)定器
通過(guò)計(jì)算機(jī)控制，穩(wěn)定增益和。
系統(tǒng)溫度系數(shù)
增益：<50 ppm/°C。[通常<30 ppm/°C。]
偏移：<滿(mǎn)量程的3 ppm/°C。過(guò)載恢復(fù)
在增益時(shí)，在2.5個(gè)無(wú)過(guò)載脈沖寬度內(nèi)從X1000過(guò)載恢復(fù)到額定輸出的2％以?xún)?nèi)。（使用InSight示波器測(cè)量。）
系統(tǒng)處理量
>100,000 cps，但在LFR關(guān)閉的軟件中可能會(huì)受到限制。LFR開(kāi)啟時(shí)>34,000 cps。取決于整形參數(shù)。
脈沖堆積判棄器
自動(dòng)設(shè)置閾值。
脈沖對(duì)分辨率
通常<500 ns。
自動(dòng)數(shù)字極零調(diào)整
由計(jì)算機(jī)控制。可以自動(dòng)或手動(dòng)設(shè)置。通過(guò)InSight示波器模式進(jìn)行遠(yuǎn)程診斷。（）。
數(shù)字門(mén)控基線(xiàn)恢復(fù)器
由計(jì)算機(jī)控制的恢復(fù)率調(diào)整（高、低和自動(dòng)）。（）。
LLD
在通道中設(shè)置數(shù)字低電平甄別器。LLD設(shè)置以下的通道中的數(shù)據(jù)硬截?cái)唷?/span>
ULD
在通道中設(shè)置數(shù)字高電平甄別器。ULD設(shè)置以上的通道中的數(shù)據(jù)硬截?cái)唷?/span>
計(jì)數(shù)率計(jì)
PC屏幕上將顯示計(jì)數(shù)率（如果已啟用）。
物理
總體尺寸
（包括Ge探測(cè)器端蓋和減震器）：41.3厘米長(zhǎng) x 34厘米寬 x 21.2厘米高（16.26英寸長(zhǎng) x 13.39英寸寬 x 8.35英寸高）
重量
39磅（17.7千克）。
內(nèi)部電池續(xù)航時(shí)間
當(dāng)HPGe探測(cè)器處于冷態(tài)時(shí)，在25°C下約為2.5小時(shí)，具體取決于電池狀況。通過(guò)使用外部備用電池或ORTEC可選的外部電池組，可以無(wú)限期延長(zhǎng)電池續(xù)航時(shí)間。
輸入電源
來(lái)自電池或直流電源（包括通用市電電源）的10至17 V DC。電池充電器電路在儀器內(nèi)部。
功耗
標(biāo)稱(chēng)100 W。充電期間：標(biāo)稱(chēng)5 A。電池充滿(mǎn)電時(shí)的冷態(tài)：<2 A。
溫度操作（無(wú)外殼）
范圍：-10°C至+50°C
相對(duì)濕度：95％，不結(jié)露。
該裝置在冷卻后就會(huì)繼續(xù)運(yùn)轉(zhuǎn)。冷卻時(shí)間
初始冷卻時(shí)間取決于環(huán)境溫度，但在環(huán)境溫度下通常為15小時(shí)。
通訊端口
后面板上有USB 2.0接口。
（2）TTL輸入（中子或其他傳感器輸入）。
系統(tǒng)重置IO用于遠(yuǎn)程重啟。訂購(gòu)信息 +
型號(hào)
描述
IDM-200-P
IDM-200-P可互換探測(cè)器模塊。包括內(nèi)部備用電池、操作手冊(cè)、AC/DC電源適配器充電器和USB電纜。
IDM-200-ACC-PS
AC/DC電源適配器充電器。（IDM-200-P附帶一個(gè)。）
IDM-200-ACC-USB
IP68 USB電纜。（IDM-200-P附帶一個(gè)。）
