SJ5100量具量規檢定測長機采用進口高精度光柵測量系統、高精密研磨直線導軌、高精度溫度補償系統、雙向恒測力系統、高性能計算機控制系統技術，實現各種長度參數的高精度測量。既可以檢定螺紋/光面量規、量塊、外徑千分尺、針規、指示表等各種量具又可以測量齒輪、花鍵、校對棒等精密工件。測長機廣泛應用于機械制造業、工具、量具制造業及儀器儀表制造業等企業的計量室和各級計量鑒定部門。
如在半導體制造行業中，SJ5100量具量規檢定測長機可以用來測量芯片線寬和間距等微小尺寸參數。整個測量過程不超過3分鐘，結束后自動生成結果及記錄報表。
儀器主要功能
1、標配功能：
檢測量塊&塊規：（0.1~300mm）；
光滑環規：φ5~φ200mm（壁厚≤50 mm，高度≤50mm）、光滑塞規：φ1~φ220mm；
螺紋環規：M5~M200（螺距0.8~4mm）
螺紋塞規：M1~M220（螺距0.25~5.5mm）；
光滑卡規：內卡5~200mm，外卡1~300mm
千分尺校對桿：25~300mm；
塞尺：0.02~1mm
針規：φ0.1~φ10mm
三針：0.118~6.585mm；
兩點內徑千分尺：25~300mm；
2、可選配功能：
小型光滑環規：φ0.8~φ5mm；
螺紋環規：規格M3~M4（螺距0.5~0.7mm）；
光滑錐度環規：φ5~φ200mm（厚度≤50mm）；
光滑錐度塞規：φ5~φ60mm（長度10~100mm）；φ60~φ200mm（長度≤50mm）；
螺紋錐度環規：M5~M200mm（厚度≤50mm）；
螺紋錐度塞規：M5~M60mm（長度10~100mm）；M60~M200mm（長度≤50mm）；
鋸齒螺紋、梯形螺紋：M3~M400（螺距0.5~6mm）；
花鍵環塞規/花鍵及標準齒輪（跨棒距測量）：內φ10~φ200mm，外φ5~φ200mm，模數0.8~6mm；
外徑千分尺示值誤差手動校準：25~300mm；
數顯及游標卡尺示值誤差手動校準：75~300mm；
深度千分尺示值誤差手動校準：0~25、25~50、50~75mm；
三爪內徑千分尺手動校準：φ6~φ200mm；
表類（百分表、千分表、杠桿表手動校準）；
數顯半徑規手動校準：R5~R700mm；
軸承內外圈錐度、溝槽底徑內外徑及溝槽寬度、精密零部件的長度尺寸，內外徑尺寸測量；
產品應用案例
機械制造：在機械制造過程中，可以用來測量各種零件的尺寸和形狀，以確保產品的質量和精度。
半導體制造：在半導體制造行業中，可以用來測量芯片線寬和間距等微小尺寸參數。
光學加工：在光學加工領域中，可以用來測量光學元件的表面形貌和厚度等參數。
航空航天：在航空航天領域中，可以用來測量航空器的外形和尺寸，以及檢測零部件之間的配合精度。
主要技術指標
| 型號 | SJ5100-Prec300（精密測量型） | |
| 測量范圍 | 外尺寸 | 直接測量：0~340mm |
| 內尺寸 | 比較測量：5~200mm（配置比較測量環規） | |
| 外尺寸示值誤差 | ≤±（0.2+L/1000）μm，其中：L為被測長度，單位：mm | |
| 內尺寸重復性(2S或2δ) | ≤0.1μm | |
| 內尺寸重復性(2S或2δ) | ≤0.2μm（使用測鉤）≤0.3μm（使用內測裝置） | |
| 測力 | 內測裝置傳感器測力0.05N、0.1N、0.3N、0.5N、主測力1~10N手動連續可調 | |
| 測量直徑 | 環規200mm（標配） 、塞規250mm（標配） | |
| 儀器尺寸 | 1400*400*450mm | |
| 儀器重量 | 150kg | |
五軸工作臺 | 型號 | ST-30.1(標配) |
| Z軸 | 0~50mm | |
| Y軸 | ±25mm | |
| X軸浮動 | ±10mm | |
| Z軸旋轉 | ±3° | |
| Y軸擺動 | ±3° | |
| 負載 | 50kg | |
| 臺面尺寸 | 350*25mm |
環境條件
參考校準/使用環境溫濕度：
溫度：20±2℃，波動不超過0.5℃/小時
相對濕度：10~70%。
振動：按照三坐標振動要求標準，振動速度均方根≤5um/s，振動頻率8~100Hz；
校準室內應無影響測量的灰塵、震動、噪音、氣流、腐蝕性氣體和較強磁場。
懇請注意：因市場發展和產品開發的需要，本產品資料中有關內容可能會根據實際情況隨時更新或修改，恕不另行通知，不便之處敬請諒解。
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