納米粒度儀及zeta電位分析儀BOS系列用于測量顆粒粒度與Zeta電位。納米顆粒由于粒徑十分細小,其表面的晶體結構發生變化,從而在電學、光學和化學活性等方面表現出dute的性能。粒徑大小是表征納米材料性能的重要參數,準確了解顆粒粒度是控制納米材料性能的關鍵。Zeta電位是表征膠體分散系穩定性的關鍵參數,Zeta電位越高,膠體系統就越穩定,反之,Zeta電位越低,膠體系統穩定性就越差,因此通過測量和調整體系的Zeta電位,就可以控制膠體的穩定性,廣泛應用于產品開發、生產、質量控制以及科學研究,以便深入了解產品特性。
納米粒度儀及zeta電位分析儀技術特點:
1、全光纖光路:利用全光纖光路替代分立光路,使參考光和散射光信號不再受灰塵和雜散光的干擾,顯著提高了信噪比和抗干擾能力。
2、背散射光路:使用背散射光路減小散射光程,減弱多次散射光,進而可以測量高濃度樣品的顆粒粒度。
3、大動態范圍高速數字相關器:采用高速、低速通道搭配的光子相關器,有效解決了硬件資源與通道數量之間的矛盾,實時獲取動態范圍大、基線穩定的相關函數。
4、數據篩選功能:引入分位數檢測異常值的方法,鑒別受灰塵干擾的散射光數據,并剔除異常值,提高粒度測量結果的準確性。
5、多角度數據反演:從多個不同的散射角度采集散射光強,可以獲得更多的顆粒粒度信息,并將多個自相關函數結合到一個數據分析中,提高顆粒粒度分布的準確性。
6、溫度趨勢分析:按照設定的溫度范圍,自動進行粒度和Zeta電位測量,檢測樣品粒度或電位的溫度趨勢。
7、毛細管樣品池:使用改進型平底U形毛細管樣品池測量Zeta電位,由于樣品池底部是水平的,從而使得電場強度比傳統的毛細管樣品池更加均勻,減少測量誤差,進而提高Zeta電位的測量精度與重復性。
8、相位分析光散射技術(PALS):通過測量光拍信號的相位變化來獲得顆粒的Zeta電位,測量分辨率比電泳光散射法高兩個數量級。
9、數據輸出:提供數據輸出功能,方便用戶以自定義的圖、表方式查看、對比測量結果
10、標準化操作:軟件具有標準化操作(SOP)功能,讓不同實驗室、不同實驗員間的測量按照同一標準進行,測量結果更具可比性。
11、智能化測量:自動調整散射光強,自動優化光子相關器參數,以適應不同樣品,讓測量變得如此輕松。
12、法規軟件:軟件符合FDA 21CFR Part11的要求,可設置/修改用戶組的訪問權限,具有電子記錄/電子簽名和審計跟蹤功能,wanquan符合制藥企業的法規要求。
