產(chǎn)品參數(shù)美國(guó)MAS高分辨納米粒度Zeta電位分析儀
精確非均勻樣品分析—包括納米顆粒—?dú)w功于其與顆粒密度無(wú)關(guān)的分析
產(chǎn)品參數(shù)
美國(guó)MAS高分辨納米粒度Zeta電位分析儀
精確非均勻樣品分析—包括納 米顆粒—?dú)w功于其與顆粒密度無(wú)關(guān)的分析。自動(dòng)/無(wú)人操作。所有組件都在一個(gè)簡(jiǎn)易單一窗口界面控制和操作。
精確非均勻樣品分析—包括納 米顆粒—?dú)w功于其與顆粒密度無(wú)關(guān)的分析。自動(dòng)/無(wú)人操作。所有組件都在一個(gè)簡(jiǎn)易單一窗口界面控制和操作。
- 屬性
- 產(chǎn)品名稱
- 型號(hào)
- 廠商性質(zhì)
- 訪問(wèn)量
- 更新時(shí)間
- 詳情
- 美國(guó)MAS高分辨納米粒度Zeta電位分析儀
- ZETA-APS
- 美國(guó)進(jìn)口代理
- 414次
- 2023-02-21
產(chǎn)品詳情
美國(guó)MAS高分辨納米粒度Zeta電位分析儀
產(chǎn)品特點(diǎn)：
1)采用專門(mén)的電動(dòng)聲波振蕩技術(shù)，該儀器可完成非凡的電動(dòng)測(cè)量結(jié)果，從而避免了傳統(tǒng)的微電泳技術(shù)的許多限制和局限。
2)提供數(shù)據(jù)快速準(zhǔn)確而不需要稀釋樣品，從而避免了稀釋器材的使用和錯(cuò)誤(樣品稀釋，Zeta電位將*改變);
3)該儀器可同時(shí)測(cè)量Zeta電位、PH、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)。樣品在測(cè)量時(shí)甚至可以進(jìn)行滴定操作；
4)堅(jiān)固的、多功能的、鍍金的Zeta浸入探頭可以用于樣品室或獨(dú)立的容器中；
5)自動(dòng)滴定法用于簡(jiǎn)單的IEP測(cè)量；
6)樣品可被強(qiáng)烈攪拌或混合，因此不會(huì)產(chǎn)生沉淀物；
7)高頻電場(chǎng)采用非常短的脈沖，因此樣品測(cè)量時(shí)不會(huì)產(chǎn)生錯(cuò)誤；
8)可實(shí)時(shí)測(cè)量實(shí)際樣品；
9)不使用光學(xué)技術(shù)，因此可以在任何pH值下分析固體、不透明或半透明樣品；
10)可測(cè)量水溶液、非水溶液分散系，分散系濃度范圍從0.1% ~60%。非常輕松就可測(cè)量1nm到50um的樣品顆粒；
11)該儀器操作非常簡(jiǎn)單。它提供電腦控制、自動(dòng)測(cè)量，不須特別的樣品池，樣品可隨時(shí)從任何現(xiàn)場(chǎng)或?qū)嶒?yàn)中獲取，可直接實(shí)時(shí)獲得理想的數(shù)據(jù)
美國(guó)MAS高分辨納米粒度Zeta電位分析儀
技術(shù)參數(shù)：
1)測(cè)量樣品不需要稀釋或樣品準(zhǔn)備，從而消除了操作失誤和數(shù)據(jù)的不確定性，同時(shí)節(jié)省了時(shí)間；
2)物有所值的諧振硬件設(shè)計(jì)；
3)寬粒徑測(cè)量范圍：從1nm到30um；
4)自動(dòng)電位和容積測(cè)量用于簡(jiǎn)單快速的等電位（IEP）測(cè)定、表面活性劑的吸附效果和許多其他動(dòng)態(tài)測(cè)定；
5)由于機(jī)載樣品混合和/或測(cè)量時(shí)的泵送能力，沒(méi)有粒子沉降的不利影響；
6)Zeta浸入探頭可以用于樣品室或獨(dú)立的容器中，測(cè)量精確、重復(fù)性好，方便使用；
7)可測(cè)量高粘度的樣品，樣品濃度可從0.1%到60%；
8)可在0-14的pH值范圍內(nèi)進(jìn)行測(cè)定；
9)可同時(shí)測(cè)量Zeta電位、PH、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)；
10)小樣品容量10ml，沒(méi)有大容量限制；
11)微軟支持的軟件界面，帶強(qiáng)大的數(shù)據(jù)管理功能；
12)12個(gè)月的保質(zhì)期和免費(fèi)的技術(shù)咨詢
