產品簡介： JX-3型大平臺檢測顯微鏡是專為IT行業大面積集成電路，晶體的質量檢測而設計開發制造的。
產品介紹：
JX-3型大平臺檢測顯微鏡是專為IT行業大面積集成電路，晶體的質量檢測而設計開發制造的。
正置式，三目鏡筒，比傳統的顯微鏡更適合于觀察。上部安裝彩色攝像機連續彩色監視器可直接觀察。可連接計算機打印報告、照片或連接數碼相機，照相機直接拍照，還可以直接進行圖像記錄，并建立技術檢測檔案，存儲，查詢，可省去復雜煩瑣的攝影，洗印等暗室工作，大大的提高了工作效率。
1）放大倍數：40倍至500倍；
2）超大型載物臺，可作大范圍的縱橫方向快、慢速移動，擴大檢測領域的使用范圍，適用于電子、冶金、機械、化工、科研、院校等部門，以及金相技術檢驗，失效分析等。
主要技術參數
1.機械筒長160mm
2.物鏡
放大倍數 數值孔徑 工作距離 介質 使用范圍 配置
4× 0.10 17.912 空氣 明場 1
10× 0.25 6.544 空氣 明場 1
PC20× 0.40 1.05 空氣 明場 1
PC40× 0.65 0.736 空氣 明場 1
3.目鏡
放大倍數 焦距 視場直徑 備注
10× 25 18 -
12.5× 25 14 選配
4.物鏡:
放大倍數,400倍至500倍
5.載物臺面積 400mm×300mm
縱向移動范圍---254mm
橫向移動范圍---254mm
6.調焦機構:同軸粗微調機構,調焦范圍36mm.格值0.002mm
7.光源：內藏式連續調光電源，鎢鹵素燈12V/50W。
8.物鏡轉換器 五孔式 (四孔式)
9.目鏡筒 三目鏡 (雙目鏡)
10.儀器功能,明場,偏光,攝影等
11.儀器重量：17公斤
12.儀器體積：長560mm,寬530mm,高400mm
