在固體分析分光光度計專家U-4100的基礎上實現了進一步的技術提高, UH4150問世！
UH4150是積分球分光光度計產品專家，適合半導體、光學元件、新型材料的光譜性能研究，是功能強勁的分光光度系統。UH4150適合固體、液體和渾濁樣品測試的高性能系統。
技術特點；
（1） 切換檢測器波長時會產生小的信號差異,即使這樣UH4150也可實現高精度的測定。
由于使用日立專業的積分球結構技術和信號處理技術等，將檢測器切換時（信號水平的差異）吸光度值的變化降到較小。
（2） 日立高性能的棱鏡-光柵雙單色器系統可實現低雜散光和低偏振。
棱鏡-光柵（P-G）系統與常見的光柵-光柵（G-G）系統相比,S和P偏振光強度沒有大的改變。即使對于低透過率和反射率的樣品，UH4150也可實現低噪音測定。
（3） 平行光束可實現反射光和散射光的精確測定。
平行光束，相對于樣品入射角始終相同，實現了高精度鏡面反射率的測定。此外，平行光束可用于擴散率（霧度）的評價和透鏡透過率的測定。
（4） 可提供適合不同測定目的的多種檢測器。
可使用八種不同材料、尺寸和形狀的積分球
（5） 采用全新人體工學設計。
改進樣品室門，提升操作性。為了便于更換樣品和附件的操作，采用了符合人體工學的設計。
（6） 兼容多種U-4100附件。
通用附件適用于兩種型號。U-4100型附件也可用在UH4150型由于附件可拆卸，適合更多的測定類型。
（7） 比U-4100型更高的樣品通量。
UH4150型可在1,200 nm/min的掃描速度下以1 nm的間隔進行測定，顯著縮短測定時間。
應用領域：
液體、渾濁液體、固體均可適用。可實現包括粉末、玻璃、光學薄膜、膠片材料、透鏡、棱鏡、單晶片、液體電路板等各種光學、電子設備材料的吸收/透過率/反射率的無損測試。廣泛應用于半導體、光學元件、光電設備、新型材料的光譜性能研究，獲取樣品的吸收、全透射、正透射、漫透射、全反射、正反射、漫反射等光譜數據。
