JSM-IT800 整合了我們用于從高分辨率成像到快速元素分析的“浸沒式肖特基 Plus 場發射電子槍”、創新的電子光學控制系統“Neo Engine”以及無縫 GUI 系統“SEM Center”，該系統采用一體化 JEOL X 射線能量色散譜儀 (EDS) 作為通用平臺，進行快速元素分析。
JSM-IT800 允許物鏡作為一個更換模塊，提供不同的版本以滿足各種用戶需求。JSM-IT800 有五種版本，提供不同的物鏡：混合型物鏡 (HL)，這是一種通用 FE-SEM；超級混合物鏡（SHL/SHLs，具有不同功能的兩種版本），可實現更高分辨率的觀察和分析；以及新開發的半浸沒式物鏡（i/is，具有不同功能的版本），適用于納米材料、化學、新材料、半導體器件的觀察和分析。
此外，JSM-IT800 還可以配備新型閃爍體背散射電子探測器 (SBED) 和多功能背散射電子探測器 (VBED)。SBED 支持以高響應性獲取圖像，即使在低加速電壓下也能產生清晰的成分襯度，而 VBED 可以幫助獲取 3D、形貌和成分襯度的圖像。因此，JSM-IT800 可以幫助用戶獲取豐富多樣德 信息并解決測量中的問題。
主要的選配件
- 高位電子檢測器 (UED)
- 背散射電子檢測器 (BED)
- 閃爍體背散射電子檢測器（SBED)
- 多用途背散射電子檢測器（VBED)
- 透射電子檢測器（TED)
- 低真空 （含低真空背散射電子檢測器LVBED)
- 低真空二次電子檢測器 (LVSED)
- 電子背散射衍射 (EBSD)
- 波譜儀 (WDS)
- 軟X射線分光器 (SXES)
- 探針電流檢測器
- 樣品臺導航系統
- 樣品室相機
- 操作桌
- 操作面板
- LIVE-AI過濾器ー
- SMILE VIEW™ Map
