系統概述
根據用戶不同溫濕度環境測試需求，可增加高溫箱、高低溫箱、恒溫恒濕箱等，對器件的壽命測試環境進行控制。
其溫度控制范圍、濕度控制范圍和多層腔式均可根據客戶的需求訂制。
系統特點
避免高溫對硅光電測試影響的設計方案
硅光電二極管工作溫度范圍-20-70℃，并且隨著溫度的改變，硅光電二極管光電流轉換效率，以及暗態電流都會改變，直接造成相對 亮度測量不準確。即使是耐高低溫環境的硅光電二極管，但在長期的高低溫環境下工作，也會極大縮短其使用壽命。 為避免硅光電二極管的溫度影響因素，同時保證使用壽命，將硅光電放置在室溫環境的測試機柜內部，通過光纖把高溫老化試驗箱內 的器件發光傳導過來，進行測量。
標準恒溫恒濕箱參數
溫度范圍： -40～100 ℃ （標準型，其它溫度范圍可訂制）
溫度均勻度：±2.0℃
溫度波動度： ± 0.5℃
溫度精度：1 ℃
升溫速度： 1.0～3.0℃/min
降溫速率： 0.7～1.2℃/min
濕度范圍：30%～98%RH （標準型，其它濕度范圍可訂制）
濕度波動度：±1.5％R.H
濕度偏差：±2.5％R.H
軟件功能
（1） 測量模式：恒壓、恒流、恒亮模式
（2） 測量數據：測量時間、樣品信息、電流、電壓、光感電壓、預估壽命、亮度衰減比、溫度
（3） 測量圖表：衰減比實時電流/電壓/衰減曲線
（4） 測量時間：三個時間段設計，每個時間段可以分別設置測量時間間隔等參數
（5） 發光點測量的獨立性：每個發光點可以獨立設置電壓或電流等參數，共有96組電壓和96組電流輸出,以及96組電流和電壓的獨立測量
（6） 光學壽命測量時,每個發光點可以獨立開始和停止測量,每個發光點均可設置獨立的三段測試時間和間隔.支持用戶在測試過程中,增加或 更換其中幾片產品
（7） 圖表實時查詢：支持圖表在測量過程中實時查詢，不必等待測量結束后再看數據和圖表
（8） 曲線圖：支持選擇電壓、電流、亮度衰減、壽命時長等數據，在圖表里顯示曲線。
（9） 測量前預處理功能：可以設定的需要預處理的溫度值、電流、電壓值和時間等參數，正常測量前先以預處理條件進行老化，然后再進 入正常壽命測試程序。
（10） 數據實時存儲，異常恢復后可找回數據并繼續測試（中斷的時間不累積，能自動減除）
（11） Datalog及Eventlog實時記錄
軟件界面
根據用戶不同溫濕度環境測試需求，可增加高溫箱、高低溫箱、恒溫恒濕箱等，對器件的壽命測試環境進行控制。
其溫度控制范圍、濕度控制范圍和多層腔式均可根據客戶的需求訂制。
系統特點
避免高溫對硅光電測試影響的設計方案
硅光電二極管工作溫度范圍-20-70℃，并且隨著溫度的改變，硅光電二極管光電流轉換效率，以及暗態電流都會改變，直接造成相對 亮度測量不準確。即使是耐高低溫環境的硅光電二極管，但在長期的高低溫環境下工作，也會極大縮短其使用壽命。 為避免硅光電二極管的溫度影響因素，同時保證使用壽命，將硅光電放置在室溫環境的測試機柜內部，通過光纖把高溫老化試驗箱內 的器件發光傳導過來，進行測量。
標準恒溫恒濕箱參數
溫度范圍： -40～100 ℃ （標準型，其它溫度范圍可訂制）
溫度均勻度：±2.0℃
溫度波動度： ± 0.5℃
溫度精度：1 ℃
升溫速度： 1.0～3.0℃/min
降溫速率： 0.7～1.2℃/min
濕度范圍：30%～98%RH （標準型，其它濕度范圍可訂制）
濕度波動度：±1.5％R.H
濕度偏差：±2.5％R.H
軟件功能
（1） 測量模式：恒壓、恒流、恒亮模式
（2） 測量數據：測量時間、樣品信息、電流、電壓、光感電壓、預估壽命、亮度衰減比、溫度
（3） 測量圖表：衰減比實時電流/電壓/衰減曲線
（4） 測量時間：三個時間段設計，每個時間段可以分別設置測量時間間隔等參數
（5） 發光點測量的獨立性：每個發光點可以獨立設置電壓或電流等參數，共有96組電壓和96組電流輸出,以及96組電流和電壓的獨立測量
（6） 光學壽命測量時,每個發光點可以獨立開始和停止測量,每個發光點均可設置獨立的三段測試時間和間隔.支持用戶在測試過程中,增加或 更換其中幾片產品
（7） 圖表實時查詢：支持圖表在測量過程中實時查詢，不必等待測量結束后再看數據和圖表
（8） 曲線圖：支持選擇電壓、電流、亮度衰減、壽命時長等數據，在圖表里顯示曲線。
（9） 測量前預處理功能：可以設定的需要預處理的溫度值、電流、電壓值和時間等參數，正常測量前先以預處理條件進行老化，然后再進 入正常壽命測試程序。
（10） 數據實時存儲，異常恢復后可找回數據并繼續測試（中斷的時間不累積，能自動減除）
（11） Datalog及Eventlog實時記錄
軟件界面
