SNA5000X系列矢量網絡分析儀SNA5082X/SNA5084X
S參數測量，差分(平衡)測量，時域測量，濾波器插入損耗、帶寬、Q值等一鍵測量，支持端口阻抗轉換、端口擴展功能，支持極限測試、紋波測試功能，支持夾具仿真和去嵌入功能，支持線性頻率掃描、對數頻率掃描、分段頻率掃描、線性功率掃描方式，支持SOLT、SOLR、TRL、Response、Enhanced Response等校準方法，可廣泛應用于濾波器，雙工器，天線，有源器件，射頻線纜等領域的研發，生產制造。
低噪聲，高動態范圍
系統動態范圍是VNA一個非常重要的指標，它是VNA源的大輸出功率與測試端口本底噪聲的差值。SNA5000X的動態范圍可達125dB@10Hz IFBW，接收機噪底-125 dBm/Hz，可適用于對動態范圍要求比較高的測試場景，比如同時測量濾波器的通帶和帶外抑制性能。
S參數測試/平衡-不平衡測試
SNA5000X系列支持在多個窗口添加多條跡線進行全4端口S參數測試，并且具備多種顯示格式，比如Log Mag，Lin Mag，Smith，Phase，Delay，Smith，SWR，Polar等，可以方便快捷地分析被測物的傳輸系數，反射系數，駐波比，阻抗匹配，相位，延時等參數。在生產線驗證天線，濾波器等的特性時，還可以保存參考跡線或者添加Limit模板進行通過失敗測試，有利于提高生產效率。
SNA5000X系列還支持端口阻抗變換功能，比如在測試有源差分放大器時，可將輸入輸出端口進行阻抗變換，從而進行差分（平衡）測量（比如Scc，Sdd，Scd，Sdc等參數）。此功能還可應用于差分線纜等其他差分類測試。
時域分析功能及眼圖功能
在微波射頻領域，如何有效消除有害的測試夾具效應是一大挑戰。比如在對SMD器件進行測試時需要特定的測試夾具實現測試儀器測試端與器件輸入端的轉接，導致測試結果中包含了測試夾具的特性。目前SNA5000X系列提供的去除測試夾具影響的方法主要有：端口延伸，端口匹配，端口阻抗轉換，去嵌入，適配器移除等。
另外，SNA5000X系列還支持TDR時域反射計測量功能，可在時域對傳輸線的特征阻抗，時延等參數進行分析。
眼圖可以反映信號鏈路上傳輸的數字信號的整體特征，從中觀察出碼間串擾和噪聲的影響，進而估計系統的優劣程度。因此，眼圖分析是高速系統信號完整性分析的核心。SNA5000X搭載了眼圖功能，為需要對高速信號進行時域分析的客戶節省了大量成本和時間。
校準件
SNA5000X系列包含SNA5052X, SNA5082X, SNA5054X,SNA5084X共4個型號，測量頻率范圍涵蓋9kHz~4.5GHz/8.5GHz,支持2端口和4端口S參數測量，具備12.1英寸觸摸屏，支持外接鼠標鍵盤操作，擁有友好的人機交互界面。相比傳統的矢量網絡分析儀，體積更小，重量更輕，為客戶節省了大量的實驗室及生產線空間。SNA5000X系列矢量網絡分析儀SNA5082X/SNA5084X憑借其豐富的功能及優秀的交互體驗，廣泛適用于公司研發，生產制造，研究院所等場景
