模擬靜電CDM試驗機HANWA阪和電子工業
是與日本、海外的規格對應的可靠性高的裝置。（JEITA/ESDA/JEDEC規格對應）通過更換放電電路的單元來支持國內外的規格測試。可以測量設備各端子容量。測量數據可以作為文本文件保存。
模擬靜電CDM試驗機HANWA阪和電子工業
模擬靜電CDM試驗機HANWA阪和電子工業
CDM試驗機 型號：HED-C5000R
是與日本、海外的規格對應的可靠性高的裝置。（JEITA/ESDA/JEDEC規格對應）通過更換放電電路的單元來支持國內外的規格測試。可以測量設備各端子容量。測量數據可以作為文本文件保存。
CDM試驗機 型號：HED-CB5000
是一種模擬半導體器件上插有印刷電路板和模塊的靜電向接地等放電現象的測試裝置。充放電現象采用了與面向半導體器件的CDM試驗相同的試驗。
全自動Wafer ESD測試儀 型號：HED-W5300D
WaferESD測試儀HED-W5300D比以往的產品HED-W5100D進化得更厲害，可以自動控制搭載Wafer的階段。
即使是300mm級別的Wafer，只要將Wafer放在舞臺上，就可以簡單地進行測定。
工作效率肯定會大幅提高。
另外，和以前的產品一樣，可以對一般的包裝品進行試驗。
全自動Wafer ESD測試儀 型號：HED-W5100D
從LED用到系統LSI的大口徑Wafer，可以應用HBM和MM。
施加ESD后，也可以通過V/I測量進行破壞判定。此外，還可與ESD測試等TLP測試裝置同時使用。對于ESD測試中出現問題的設備，有效地獲得保護電路的動作參數。
是與日本、海外的規格對應的可靠性高的裝置。（JEITA/ESDA/JEDEC規格對應）
高性能Manual Wafer ESD測試儀 型號：HED-W5000M
高性能Manual Wafer ESD測試儀
操作機器人，可以簡單地對準2針之間的位置。
施加脈沖后，可以通過Vf/Im測量進行破壞判定。
