鍍鋅鍍鎳鍍錫鍍銀X射線測厚儀
檢測電子電鍍,化學電鍍層厚度,
如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀,鍍錫...
可測單層,雙層,多層,合金鍍層
X射線鍍層測厚儀韓國XRF-2000
1、測量電鍍層厚度范圍為0.03微米～35微米。
2、可測量鍍種為：鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳及鋅鎳合金等。
3、可滿足單鍍層、雙鍍層、多鍍層、合金鍍層測量，不限底村。
三、設備功能描述
兼容Microsoft Windows 操作系統
使用X熒光射線非接觸非破壞快速測量電鍍層厚度
擁有多種濾波器選擇
各種樣品單層至多層（5層），合金膜層可測量
定點自動定位分析
光標對準全自動
影像重疊功能
自動顯示測量數據
彩色區別測量數據
多重統計顯示視窗與報告編輯應用2D/3D，任意位置測量控制Y軸全自動控制鐳射對焦與自動定位系統
多種機型選擇X-ray運行待命（睡眠）控制溫控穩定
1、主機箱：
輸入電壓：AC220V±10%，50/60Hz
溝通方法：RS-232C
溫度控制：前置放大及機箱溫度控制
對焦：激光自動對焦
樣品對位：激光對位
安全裝置：若測量中箱門打開，X射線會在0.5秒內自動關閉
表面泄露：少于1SV
2、多通道分析：
通道數量：1024ch
溫度控制：自動前置放大溫度控制
脈沖處理：微電腦高速控制處理器
3、X射線源：
X射線管：油冷、超微細對焦
高壓：0-50Kv（程控）
管電流：0-1mA（程控）
目標靶：W靶（可選Mo或Be）
4、準直器：
固定種類大小：0.1mm-0.2mm-0.3mm-0.4mm-0.05*0.1mm 五個可選
韓國XRF-2000X光鍍層測厚儀
韓國XRF-2000X光鍍層測厚儀,測量鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍錫,鍍鈀等
可測單鍍層，雙鍍層，多鍍層，合金鍍層等。
XRF-2000鍍層測厚儀共三款型號
不同型號功能一樣
機箱容納樣品大小有以下不同要求
XRF-2000鍍層測厚儀型號介紹
XRF-2000鍍層測厚儀H型:測量樣品高度不超過10cm
XRF-2000電鍍測厚儀L型:測量樣品高度不超過3cm
XRF-2000電鍍膜厚儀PCB型:測量樣品高度不超3cm(開放式設計,可檢測大型樣品
儀器功能
全自動臺面
自動雷射對焦
多點自動測量 (方便操作人員準確快捷檢測樣品）
測量樣品高度3cm 10cm 15cm 20cm 以內四種規格可選
鍍層厚度測試范圍：0.03－35um
可測試單層，雙層，多層及合金鍍層厚度
每層鍍層都可分開顯示各自厚度.
測量時間：10－30秒
XRF2000鍍層測厚儀
檢測電子電鍍,化學鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀...
可測單層,雙層,多層,合金鍍層,
測量范圍:0.04-35um
測量精度:±5%,測量時間只需30秒便可準確知道鍍層厚度
全自動臺面,自動雷射對焦，操作非常方便簡單
鍍鋅鍍鎳鍍錫鍍銀X射線測厚儀
